如何选择合适的探测系统

    如何选择合适的探测系统

    为测量任务选择合适的探测系统并不总是一件容易的事。为获得有效的**,较好的方式是从确定工件所需的应用、灵活性和测量范围开始。
    1. 测头的选择: 选择测头要考虑以下几点:

      在可以应用接触式测头的情况下,慎选非接触式测头;

      在只测尺寸、位置要素的情况下尽量选接触式触发测头;

      考虑成本又能满足要求的情况下,尽量选接触式触发测头;

      对形状及轮廓精度要求较高的情况下选用扫描测头;

      扫描测头应当可以对离散点进行测量;考虑扫描测头与触发测头的互换性(一般用通用测座来达到)

      易变形零件、精度不高零件、要求**大量数据零件的测量,可以考虑采用非接触式测头;

      要考虑软件、附加硬件(如测头控制器、电缆)的配套。

    2. 不同测头适用的场合

    触发测头:当零件所被关注的是尺寸,间距或位置,而并不强调其形状误差,而注意力主要放在尺寸和  位置精度时,接触式触发测量是合适的,特别是对于离散点的测量。 触发式测头测尺寸、间距或位置  比扫描测头快,触发测头体积较小,当测量空间狭窄时测头易于接近零件。 一般来讲触发式测头使用  及维修成本较低;因此,接触式触发测头依然是坐标测量的主流。

    触发测头的优势及劣势

      优势:

      适于空间箱体类工件及巳知表面的测量;

      通用性强,采购及运行成本低;

      有多种不同类型的触发测头及附件供采用;

      适用于尺寸测量及在线应用;

      坚固**;

      体积小,易于在窄小空间应用;

      由于测点时测量机处于匀速直线低速状态,测量机的动态性能对测量精度影响较小;

    劣势:测量取点率低。


    扫描测头:应用于有形状要求的零件和轮廓的测量:扫描方式测量的主要优点在于能高速的采集数据,这些数据不仅可以用来确定零件的尺寸及位置,更重要的是能用众多的点来**的描述形状、轮廓,这特别适用于对形状、轮廓有严格要求的零件,该零件形状直接影响零件的性能(如叶片、椭圆活塞等);也适用于你不能确信你所用的加工设备能加工出形状足够好的零件,而形状误差成为主要问题时的情况。

    **测量:由于扫描测头对离散点测量是匀速或恒测力采点,其测点精度可以更高。

    同时,扫描测头可以直接判断接触点的法矢,对于要求严格定位、定向测量的场合,扫描测头对离散点的测量也具有优势。

    对于未知曲面的扫描,亦即称为数字化的场合下,扫描测头显示出了它的*特优势:因为数字化工作方式时,需要大量的点,触发式测头的采点方式显得太慢;由于是未知曲面,测量机运动的控制方式亦不一样,即在“探索方式”下工作;测量机根据巳运动的轨迹来计算下一步运动的轨迹、计算采点密度等。

    扫描测头的优势及劣势

    优势:

    适于形状及轮廓测量;

    高的采点率;

    高密度采点**了良好的重复性、再现性;

    更高级的数据处理能力;

    劣势:

    比触发测头复杂;

    对离散点的测量较触发测头为慢;

    高速扫描时由于加速度而引起的动态误差很大,不可忽略,**加以补偿;

    针尖的磨损**注意;

    价格昂贵,使用成本非常高;

    非接触式测头:非接触测头没有测量力,适于柔软物体;非接触式测头取样率高,在50 /秒到23000 /秒之间,适于表面形状复杂,精度要求不特别高的未知曲面,例如汽车、家电的木模、泥模等。但非接触测头由于受物体表面特性(颜色、光度、粗糙度、形状等)的影响较大,目前在大多数情况下,示值误差比接触式测头要大,保持在10 微米级以上。同时,非接触测头的价格一般较贵。

    选用非接触式测头的原则是:易变形零件、精度不高零件、要求**大量数据零件的测量,可以考虑采用非接触式测头;要考虑软件、附加硬件(如测头控制器、电缆)的配套。


    深圳市度量精密机械有限公司专注于三坐标测量机,影像测量仪,测高仪,三次元,二次元,高度仪,,影像仪,二次元影像仪,CMM三次元,思瑞等

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