粗糙度仪 S130A

    日本东京精密S130A粗糙度仪搭配大屏幕触摸屏,简单实用。强大的AI功能根据被测表面状态自动设定较佳测量条件,
    包括测量范围、评价长度、截止波长和图形放大倍率等。搭配多种补正功能,有直线、R面、前半、后半、两端及花键曲线,
    方便不同工件测量的要求。内置式打印机可现场打印测量数据。
    
    
    参数
    
    
    型号SURFCOM 130A
    
    
    测量范围
    X 轴(横向) 50 mm
    Z 轴(纵向) 800μm(量程/分辨率:800μm/0.012μm、80μm/0.001μm、8μm/0.0001μm)
    直线度精度:0.3 μm/50 mm
    
    
    分析项目
    对应标准对应JIS-2001、JIS-1994、JIS-1982、ISO-1997、ISO-1984、DIN-1990、ASME-1995、CNOMO标准
    
    
    参数:Ra, Rq, Ry, Rp, Rv, Rc, Rz, Rmax, Rt, Rz.J, R3z, Sm, S, R Δa, RΔq, Rλa, Rλq, TILT A, Ir, Pt, Pc, Rsk, Rku, Rk, Rpk,
          Rvk, Mr1, Mr2, VO, K, tp, Rmr, tp2, Rmr2, Rδc, AVH, Hmax, Hmin, AREA, NCRX, R, Rx, AR, NR, CPM, SR, SAR
    
    
    评价曲线:断面曲线、粗糙度曲线、滤波波纹度曲线、滤波中心线波纹度曲线、滚动圆波纹度曲线、滚动圆中心线波纹度曲线、
              DIN4776特殊曲线、粗糙度Motif曲线、波纹度Motif曲线、包络波纹度曲线
              特性曲线负荷曲线、振幅分布曲线、功率曲线图
    
    
    倾斜补偿方法:直线补偿、R面补偿、前半补偿、后半补偿、两端补偿、
                 样条补偿(直线补偿、R面补偿及两端补偿可在任意范围进行补偿)
    倍率
    纵向倍率(Z 轴) 50 、100 、200 、500 、1 k、2 k 、5 k 、10 k、20 k 、50 k 、100 k 自动
    横向倍率(X 轴) 1 、2 、5 、10 、20 、50 、100 、200 、500 、1 k 、2 k 、5 k 自动
    
    
    滤波器种类:标准型滤波器(2RC)、相位补偿型滤波器(2RC)、相位补偿滤波器(高斯)
    测量速度: 0.15、0.3 、0.6 、1.5 、3 mm/s( 5速)
    传感器针尖半径:2μm,材质:金刚石,测量力:0.75mN
    
    
    **的功能
    AI 功能搭载新手也易于理解的AI功能
    段差分析功能较适合半导体零部件的膜厚及面积测量
    PC 卡可输出文本文件并将数据提供给计算机。
    
    
    标准附件标准片(E-MC-S24B)、记录纸(E-CH-S21A)、手写笔(E-MA-S54A)、使用说明书、支持软件
    电源AC100 V?240 V ±10 %
    
    
    设置尺寸(W×D×H) 700 mm×300 mm×150 mm
    质量8 kg
    
    

    广州市一迅科技有限公司专注于三坐标测量机,表面粗糙度仪,轮廓形状测量仪,粗糙度,轮廓综合测量机,圆度,圆柱度测量仪,影像仪,投影仪等

  • 词条

    词条说明

  • 粗糙度仪 S480B

    日本东京精密S480B粗糙度仪搭配大行程高精度驱动部及传感器,操作摇杆可控制 立柱及驱动部上下左右移动。强大的自动停止功能让客户不必担心撞针,测针在垂直方向接触工件会 自动停止。大屏幕触摸屏,简单实用。强大的AI功能根据被测表面状态自动设定较佳测量条件, 包括测量范围、评价长度、截止波长和图形放大倍率等。搭配多种补正功能,有直线、R面、前半、后半、两端及花键曲线, 方便不同工件测量的要求。内置式打

  • 粗**度仪 FLEX-50A

    日本东京精密简易式粗糙度仪FLEX-50A设计紧凑,可手持式操作,适合现场和实验室使用。 高精度传感器可对应大部分工件测量要求,搭配彩色屏幕易于观看测量结果,操作简单。内置式打印机可 现场打印测量数据。除了检查表面粗糙度,该仪器还有测量台阶功能,可测量玻璃油墨厚度、集成块等有断面的 涂镀层厚度等。搭配多种补正功能,有直线、R面、前半、后半、两端及花键曲线, 方便不同工件测量的要求。 参数 参数规格

  • 粗糙度仪 S1400G

    日本东京精密S1400G粗糙度仪搭配高精度大量程传感器,量程800μm,分辨率高达0.1nm。 设备搭配东京精密专业测量软件,同一批工件可通过编程测量,大大提高效率。除了常用的汽车 、五金、模具、机床等行业外,还可以用于玻璃和半导体硅片测试,可以测量液晶玻璃用的参数Wfpd, 硅片的粗糙度和翘曲度。

  • 粗糙度仪 S130A

    日本东京精密S130A粗糙度仪搭配大屏幕触摸屏,简单实用。强大的AI功能根据被测表面状态自动设定较佳测量条件, 包括测量范围、评价长度、截止波长和图形放大倍率等。搭配多种补正功能,有直线、R面、前半、后半、两端及花键曲线, 方便不同工件测量的要求。内置式打印机可现场打印测量数据。 参数 型号SURFCOM 130A 测量范围 X 轴(横向) 50 mm Z 轴(纵向) 800μm(量程/分辨率:8

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