电子零组件高温储存试验知识

时间：2020-01-05

高温储存试验

试验目的：用来确定电子电工元件、设备及其它产品在高温环境下使用、运输或贮存的能力。

高温对产品的影响：老化、氧化、化学变化、热扩散、电迁移、金属迁移、熔化、汽化变形等。

参考标准：《GBT 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 2部分：试验方法 试验B：高温》等

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