深冷试验箱
型号 | ZDT200D | ZDT500D | ZDT1000D | |
电源 | 交流380V 50赫兹 3相+N+PE | |||
较大电流 | 15.5 | 22.5 | 26 | |
最大功率 | 7.5 | 11.5 | 13 | |
使用环境温/湿度 | +15~+35℃/≤85%RH | |||
控制方式 | 平衡调温方式(BTC) | |||
性能 | 温度范围 | 较低温度-80℃/-100℃/-120℃可选,较高温度+130℃ | ||
温度波动度 | ≤±0.5℃ | |||
温度均匀性 | ≤2℃ | |||
温度偏差 | ≤±2℃ | |||
升温速率 | 3.5℃/min | 3.5℃/min | 3.5℃/min | |
降温速率 | 2.5℃/min | 2.5℃/min | 2.5℃/min | |
观察窗 | 多层导电膜加热观察窗,尺寸W240mmxH310mm | 多层导电膜加热观察窗,尺寸W470mmxH320mm | 多层导电膜加热观察窗,尺寸W470mmxH320mm | |
控制器 | Q8-902控制仪表集成松下可编程控制器 | |||
冷凝方式 | 风冷 | |||
内容积 (升) | 210 | 499 | 1000 | |
内尺寸 | W(mm) | 500 | 700 | 1000 |
D(mm) | 600 | 750 | 1000 | |
H(mm) | 700 | 950 | 1000 | |
外尺寸 | W(mm) | 1000 | 1200 | 1500 |
D(mm) | 1130 | 1255 | 1525 | |
H(mm) | 1795 | 2070 | 2165 | |
标准配置 |
● 脚轮 ● 电缆孔带硅胶塞 Φ50mmx1 ● 照明 ● 一层隔板 ● 风冷冷凝方式 ● USB接口及历史数据回放及转换软件 |
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可选配置 |
○ 电缆孔带硅胶塞 Φ50mm,Φ100mm ○ 额外的隔板 ○ 外部插座 220V 10A ○ LAN接口及远程控制软件 ○ 远程集中控制软件 ○ 数字量输入报警接口x2 ○ 数字量输出继电器接口x6 (试验品用) ○ 外部数字量控制启停 ○ 额外模拟量采集通道x8 数据可在控制器上储存回放(T型热电偶,K型热电偶,4~20mA) ○ 模拟量输出通道x2 (设定温度,采样温度) ○ 外部模拟量控制温度 (0~20mA,-10V~+10V可选) |
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*1: 较高温度与较低温度之间的平均速率(无负载,无散热,参考IEC60068-3-5) | ||||
*2: 性能指标在室温为+25℃时测定;传感器处于空气处理单元出风口; |
词条
词条说明
恒温恒湿试验箱的线性和非线性在进行试验检测时具有很大的差别,以下内容便是对设备线性与非线性测试的介绍:线性测试是指恒温恒湿试验箱在工作过程当中,在预先设定的某一时间段里面,升温速率和降温速率的差值比不变的现象。举个例子:如果设定升降温速度是3℃/min,那么在这个设定范围内的升降温速度一直都是3℃/min,不会变成1℃/min,也不会变成5℃/min,线性升温每分钟升降温速度是可控的。
三箱冷热冲击试验机适用于电子、电器零配件、自动化零件、通讯元件、汽车零件、金属、塑料、*工业、航天、自动化零件、通讯元件、兵工、电子晶片、半导体陶瓷及聚合物材料的物理性变化,测试其材料在热胀冷缩时所产生的化学变化或物理损伤,测试其材料对高、低温的反复拉伸能力和产品的物理损伤。可以验证产品质量,从精细IC到重机械元件,都需要理想的测试工具来进行测试。除霜频率有两种,一种是按时间进行除霜,即设备运行
高加速试验加速试验包括高加速寿命试验(HALT)和高加速应力筛检(HASS)。这些测试评估产品在受控环境下的可靠性,包括高温、高湿和设备通电时的振动/冲击测试。目标是模拟可能导致新产品即将失效的条件。在测试期间,产品在模拟环境中进行监控。电子产品的环境试验通常包括在一个小的环境室中进行试验。湿度和腐蚀许多PCB将部署在潮湿的环境中,因此PCB可靠性的常见测试是吸水测试。在这种类型的测试中,PCB在
高低温低气压试验箱/低气压试验箱/高低温循环湿度高度综合试验箱/高度真空试验箱
简介:本试验箱适用于对产品(整机)、零部件、材料进行高温、低温,高度(不**海拔30000米或45000米)以及高低温循环试验和温度-高度综合试验,高、低温试验时本试验箱可用于散热试验样品和非散热试验样品的试验。对于散热试验样品的试验,其散热功率不能**过试验箱制冷量,因制冷量为动态值,其随温度点变化而有所变化。 QD系列技术参数 型号 QD6025 QD605 QD61 QD62 &
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