插回损测试仪

时间：2017-02-23

SGX-502插回损测试仪是我公司研发的一款集稳定化光源、高精度光功率计、插损测试仪和回波损耗测试仪为一体的多功能仪表，主要用于光器件插入损耗回波损耗测试及设备装配检查、生产质量检测, 其具有较佳的性能价格比,是光纤通信系统研究、开发和生产，维护等部门*的基本和理想测试仪器。智能化软件及按键，个性化的彩色屏幕显示，让操作更加简单快捷！

 主要特点   
-----一机多用，经济实惠（可用作光插回损仪、台式光功率计、台式光源）
1310/1550nm单模光源对应检测单模光纤1310/1550nm波长下插损和回损，
850nm多模光源可检测多模光纤850nm波长下的插损
功率计模式下   可对应检测850/ 1310/1550nm波长下的功率。
-----**强电路设计、先进信号处理技术，对大范围的微弱信号精确分析处理，高精度，高稳定性，。
-----插损及光功率计测试动态范围大(-80dBm～+3dBm) ，回损测试动态范围达75dB
-----良好的操作系统，显示界面多样化，反应速度快，操作方便
-----软件，按键更加智能化，操作更简单快捷，测试波长同步自动设定，测量过程中*任何按键
-----测试指标稳定，反应速度快，加上*特的彩色颜色显示提示，让操作更加简单便捷，大大提升了测试效率。
-----单窗口大彩色液晶屏幕分显示，测试结果一目了然, 减轻操作人员视觉疲劳
-----合理的外观设计，*特的光源接头可拆卸便捷清洁设计并提供全面的功率计接口配置 
-----开放的通讯协议，能连接电脑等各种设备进行测试




技术指标

仪表型号	SGX-502
光源波长	850/1310/1550nm
接口类型	多模850nm：FC/PC      单模1310/1550nm：FC/APC
光回波损耗测试
工作波长	1310/1550nm
测试范围	0 ~ 75 dBm
校准波长	1310/1550nm
测试精度	0.25dB
输出稳定性	0.02dB/小时 ( @ 25℃)
光插入损耗测试
校准波长	850/1310/1550nm
测试范围	+3 ~ -80 dBm
探头类型	InGaAs
探测面直径	2mm
测试精度	0.05dB
显示分辨率	对数：0.001dB；线性：0.001nw/μW/mW
测试模式	线形和非线性
显示窗口	彩色大液晶显示 （分辨率：480*360）
接口类型	活动接口， FC/SC/ST/通用φ2.5mm/通用φ1.25mm等适配器
通讯接口	USB
电源	AC 90-260V
工作温度	-5℃～+55℃
外观尺寸 	265mmX265mmX140mm
重量 	3.5kg

词条
词条说明
插回损测试仪
SGX-502插回损测试仪是我公司研发的一款集稳定化光源、高精度光功率计、插损测试仪和回波损耗测试仪为一体的多功能仪表，主要用于光器件插入损耗回波损耗测试及设备装配检查、生产质量检测, 其具有较佳的性能价格比,是光纤通信系统研究、开发和生产，维护等部门*的基本和理想测试仪器。智能化软件及按键，个性化的彩色屏幕显示，让操作更加简单快捷！主要特点 -----一机多用，经济实惠（可用作光插回损仪、台

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