冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业*的测试设备,用于测试材料结构或复合材料,在瞬间下经较高温及较低温的连续环境下所能忍受的程度,得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。现将“冷热冲击试验的试验目的与试验要求”作如下解析:
一、冷热冲击试验箱试验目的:确定测试产品在周围大气温度急剧变化时的适应性及被破坏性
二、试验条件:高温箱:RT~150℃,低温箱:RT~-40℃,试验温度保持时间:1h或者直至试验样品达到温度稳定,以时间长者为准,循环次数:针对各个不**业不同厂家所对应的试验要求不一样,按照标准上的试验方法测试。
三、恢复:测试产品从冷热冲击箱内取出后,应在正常的试验大气条件下进行恢复,直至试验样品达到温度稳定.
四、对冷热冲击试验箱的要求:
采用高温箱和低温箱进行冷热冲击试验,以提供试验样品经受周围空气温度急剧发生变化的环境温度
高温区的要求,应符合GJB150.3-86《*设备环境试验方法高温试验》的*3章各条所规定的要求
低温区的要求,应符合GJB150.4-86《*设备环境试验方法低温试验》的*3章各条所规定的要求。
冷热冲击箱提供高温试验部分和低温试验部分,应分别符合GJB150.3-86和GJB150.4-86的*3章各条所规定的要求。
试验箱的容积应保证在试验样品放入候补**过试验温度保持时间的10%就能使试验箱温度达到GJB150.1-89中3.2条规定的试验条件容差范围之内。
五、控制系统:
低温区、高温区转换时间小于等于15秒。
温度恢复时间小于等于5分钟。
六、参照标准:
GB/T2423.1.2、GB10592-2008、GJB150.3
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词条
词条说明
本文主要是介绍电子产品可靠性测试,电子产品可靠性测试包括哪些的内容.推荐可靠性测试中心据未知消息 通过可靠性试验,可以确定电子产品在各种环境条件下工作或存储时的可靠性特征量,为使用、生产和设计提供有用的数据;也可以暴露产品在设计、原材料和工艺流程等方面存在的问题。通过失效分析、质量控制等一系列反馈措施,可使产品存在的问题逐步解决,提高产品可靠性。
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