IEC60068-2-14:2009冷热冲击试验在高低温检验所受到的影响

时间：2020-09-14

冷热冲击试验是装备设计定型的鉴定试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验，评估电子元器件或其它测试样品经温度变化或温度连续变化环境下所受之影响。接下来浅谈一下关于IEC60068-2-14:2009冷热冲击试验在高低温检验所受到的影响。

在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验。可以说冷热冲击试验箱在验证和提高装备的环境适应性方面应用的频度仅次于振动与高低温试验。

冷热冲击试验用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经较高温及低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在zui短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。又名温度冲击试验或高低温冲击试验，是用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性，适合电子、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、*工业、航天工业、电子芯片IC、IT、等物理性变化的测试之用；

冷热冲击试验机参数

温度测试范围-65℃~+150℃（高温：60℃~150℃，低温：-10℃~-65℃）

高低温转换时间：≤10S

高低温恢复时间：3~5min（非线性空载下）

参考测试标准：

IEC60068-2-14:2009；

Environmentaltesting-part2-14:tests-testNa:changeoftemperature

GB2423.22-2002

电子电工产品环境试验*二部分：试验方法试验Na:温度变化

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词条说明
冷热冲击试验的作用检测产品测试标准
冷热冲击试验又名温度冲击试验或高低温冲击试验，是将试验样品交替暴露于低温和高温空气（或合适的惰性气体）中，使其经受温度变化的影响。用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性，是装备设计定型的鉴定试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验，在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验。需要进行冷热冲击检测的产品：电子通信类：手机、射频器、电子通信元器件等，PCB、PCBA；电器类：家电、灯具、变电器等各类家
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