X射线光谱方法测定

时间：2019-12-23

X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射，这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量（若密度已知，则为覆盖层线性厚度）和二次辐射强度之间存在一定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。若覆盖层材料的密度已知，同时又给出实际的密度，则这样的标准块就能给出覆盖层线性厚度。
测试设备：X射线荧光测厚仪
参考标准：GB/T 16921, ISO 3497,ASTM B568

扫描电镜法是通过从待测试样上*部位垂直于覆盖层切割一块试样，经过镶嵌、研磨、抛光和浸蚀制成横截面金相试样，利用扫描电子显微镜进行镀层厚度测量。
测试设备：扫描电子显微镜
参考标准：JB/T 7503, ISO 9220,ASTM B748
深圳市启威测标准技术服务有限公司专注于表面微观形貌SEM,材料断口观察SEM,表面成分分析EDS,微量污染物成分分析,涂镀层厚度测试,表面粗糙度量测等

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词条说明
涂镀层厚度测试的应用领域
涂镀层厚度测试应用领域电子、汽车、航空、材料、金属、陶瓷品等各个制造领域。涂/镀层厚度测量相关参考标准GB/T 6462-2005 金属和氧化物覆盖层厚度测量显微镜法GB/T16921-2005 金属覆盖层覆盖层厚度测量 X射线光谱法ASTM B487-1985(2007) 用横断面显微观察法测定金属及氧化层试验方法ASTM
微量污染物成分分析
微观成分分析 ◆腐蚀产物分析 ◆镀（涂）层成分分析 ◆污染物成分分析 &
什么是表面微观形貌SEM？
表面所具有的微观几何形状统称为表面形貌(surface topography)，其中表面被定义为- -种材料与其它材料之间的分界面" (在工程表面的情况下，一种材料是空气，另-种为固体材料，例如金属、塑料等)。固体表面是指固体上代表实体和周围环境边界的部分。工程表面形貌代表着工件表面的主要外部特征，是由加工过程中的各种工序产生的。一个制件表面的微观几何形貌
SEM及EDS测试范围有哪些？
SEM的二次电子成像分辨率约3nm背散射电子成像分辨率约300nmEDS成分分析的元素范围Be~U分析深度约1μm检测下限约1%空间分辨率约1μmSEM+ EDS常规服务项目:各种固体材料的形貌分析微区化学成分检测样品成分的线分布和面分布分析机械探针式测量方法:探针式轮廓仪测量范围大，测量精度高，但它是一种点扫描测量，测量费时。机械探针式测量方法是开发较早、研究充分的一一种表面轮廓测量方