便携式硬度计/金属硬度检测 Equotip 550 Leeb

    金属硬度检测  Equotip 550 Leeb 
    
    Equotip 550 是便携式硬度检测中功能较齐全的一体化解决方案。 里氏硬度原理基于动态(回弹)法,较适用于重型、大型或已安装部件的现场检测。
    
    结合 Equotip Portable Rockwell 探头,Equotip 550 可使用传统的洛氏硬度静态检测法。 这将能够在现场自动将 Leeb 关联至 Portable Rockwell 的实际压痕硬度值。
    
    新一代 Equotip 触摸屏装置提供由行业*精心设计的界面,提高了检测效率和改善用户体验。 改进的软件可提供互动向导、自动验证进程、个性化选项和自定义报告功能。 此外,该仪器可兼容后续开发产品。
    
    全彩显示屏使您能够执行较高质量的测量和对已测得数据进行分析。特殊设计的外壳适于恶劣的现场使用环境。
    
    迄今为止,Proceq 的 Equotip 已经成为**广泛认可的测量技术和行业标准。 Equotip 装置完全满足众多行业对无损硬度检测的要求。
    
     
    
     
    
    特色/应用/标准化/技术数据
    
    
    Equotip Leeb
    
    根据需要自动转换至所有通用的硬度单位(HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm)
    自动更正冲击方向确保高准确度 ± 4 HL(硬度为 800 HL 时,准确度为 0.5%)
    测量范围广泛,可利用各种冲击装置和支撑环来满足绝大多数的硬度检测要求。
    每个冲击装置均可使用硬度范围广泛和精确的硬度测试块,,用于定期验证。
     
    
    Equotip 550 Touchscreen Unit
    
    模块化概念: 利用各种型号的探头和配件灵活配置各种行业应用
    组合法: 在现场自动将 Leeb 关联至 Portable Rockwell 的实际压痕硬度值
    引导向导: 预定义工作流以增强进程可靠性和提高测量精确度
    自动验证: 根据 ISO 16859 和 ASTM A956 逐步验证
    互动指南: 通过屏幕通知为您的应用获取较相关的设置
    转换曲线: 直接在仪器上创建、编辑和验证转换曲线
    自定义报告: 模块化报告处理器允许自定义测量报告
    自动选项: 将 NDT 自动操作集成至质量管理系统和自动检测环境
    外壳经过特殊设计,可用于严苛的现场环境 (IP 54),包括背带、集成支架和遮阳盖
    高分辨率彩色显示屏
    电池使用时长 > 8h
    8 GB 闪存
    双核处理器,支持各种通信接口和外围接口: 探头连接器、USB 主机、USB 装置和以太网
    通过直接兼容后续开发产品,实现未来**投资
     
    
    里氏回弹硬度检测主要用于金属测量,还可用于复合材料、橡胶和岩石检测
    较合适用于材料挑选、验收和生产环节检测
    较合适用于重型和大型部件安装前后的现场检测
    方便用于难进入或空间有限的金属硬度检测场地
    Proceq 提供一些附件,例如一个测量夹或几个支撑脚,适合在各种测试件结构上进行手动硬度测量
    
     
    
    
    
     
    
    标准
    
    ASTM A956 / E140 / A370
    ISO EN 16859(即将发布)
    DIN 50156
    GB/T 17394
    JB/T 9378
     
    
    准则
    
    ASME CRTD-91
    DGZfP Guideline MC 1
    VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1
    Nordtest Technical Reports 99.12, 99.13, 99.36
     
    
    仪器
    
    显示屏 7” 彩色显示屏 800 x 480 像素
    内存 内置 8 GB 闪存(可存储多达 1000000 个测量值)
    区域设置 公制和英制单位,支持多种语言和时区
    电池 锂聚合物,3.6 V、14.0 Ah
    电池使用时长 > 8h(标准操作模式下)
    电源输入 12 V +/-25 % / 1.5 A
    重量(显示装置) 大约 1525 g(含电池)
    尺寸 250 x 162 x 62 mm
    较高海拔 2500 m 海拔高度
    湿度 < 95 %RH,非冷凝
    操作温度 0°C 至 30°C(32 至 86°F) (正在充电且仪器正在运行)
                   0°C 至 40°C(32 至 104°F)  (正在充电且仪器关闭)
    
                  -10°C 至 50°C(14 至 122°F)  (未充电)
    
    环境 适合室内与室外使用
    IP 等级 IP 54
    污染等级 2
    安装类别 2
     
    
    Equotip Leeb 冲击装置
    
    测量范围 1-999 HL
    测量精度 ± 4 HL(800 HL 时为 0.5 %)
    分辨率 1 HL;1 HV;1 HB;0.1 HRA;0.1 HRB;
               0.1 HRC;0.1 HS;1 MPa (N/mm2)
    冲击方向 自动补偿(DL 探头除外)
    冲击能量 
    D、DC、E、S 探头为 11.5 Nmm
    DL 探头为 11.1 Nmm
    C 探头为 3.0 Nmm
    G 探头为 90.0 Nmm
     
    
    冲击体质量 
    
    D、DC、E、S 探头为 5.45 克(0.2 盎司)
    DL 探头为 7.25 克(0.26 盎司)
    C 探头为 3.10 克(0.11 盎司)
    G 探头为 20.0 克(0.71 盎司)
    球压头 
    
    C、D、DC 探头为碳化钨,直径 3.0 毫米(0.12 英寸)
    DL 探头为碳化钨,直径 2.78 毫米(0.11 英寸)
    G 探头为碳化钨,直径 5.0 毫米(0.2 英寸)
    S 探头为陶瓷,直径 3.0 毫米(0.12 英寸)
    E 探头为多晶金刚石,直径3.0 毫米(0.12 英寸)
    操作温度 –10˚C 至 50˚C(14 至 122°F)

    圆派科学仪器(上海)有限公司专注于进口显微镜,进口切割研磨抛光机,进口硬度计,进口球磨粉碎机,扫描电镜等

  • 词条

    词条说明

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