反射内存卡电子故障注入与诊断

时间：2019-12-29作者：上海百速信息技术有限公司浏览：14

反射内存卡电子故障注入与诊断

　　故障注入是指针对特定的故障模型，有意识的在目标系统中催出故障，加速其错误和失效的发生，通过分析系统对所注故障的回应信息，可以验证其容错和故障安全等信息。

　　对于*电子平台来讲，必须具有很高的运行稳定性、健壮性和可维修性。因此在*电子系统的设计、研发和测试过程中充分考虑各种异常状态可能带来的影响，是系统设计的重要内容。故障注入通过模拟电子设备及其接口可能发生的异常( 包括物理连接失败、性能参数下降、功能失效、时序错误等)，可对电子系统进行更全面的测试和验证。

　　NI 为电子故障注入与诊断提供了*佳的软硬件综合平台，结合基于PXI 总线的故障注入模块（FIU）、精确电压电流激励源、各种矩阵开关模块以及MILSTD-1553/ ARINC-429/ AFDX 等航空总线接口模块可模拟*电子设备与接口所发生的异常，并且可通过NI 的各种信号调理与采集模块将目标系统的回应信息进行采集分析。NI LabVIEW、NI TestStand 等软件为故障注入与诊断提供了高效的ATE 测试程序开发与测试流程管理解决方案。
　应用举例故障注入综合测试平台 器件级的故障注入：通过开放式的程序设计使设备可以强制”拉出”和”灌入”电流，注入的*短时间可程序控制板级/ 单元级电气层故障注入：通过开放式的程序设计使设备可以产生任意频率的数字时序，可以配合矩阵开关或多路复用开关进行故障注入板级/ 单元级物理链路层故障注入：使用矩阵/ 多路复用通用开关，通过开放式的程序设计使设备可以模拟任意通道短路、断路、信号电阻搭接等故障 同时对于此测试平台可通过NI TestStand 软件实现测试管理，且支持ATLAS 和ATML 案例：某研究所基于NI PXI 平台及相应软件构建上述故障注入所需的硬件与软件试验环境 具体看来，基于PXI 的SMU 模块可实现电流的”拉出”与”灌入”，并通过NI LabVIEW 编写程序精确控制时间到ms 量级。 基于PXI 的高速数字I/O 模块可以产生任意频率的数字时序，配合矩阵开关模块进行电气层故障注入。基于PXI 的FIU 模块可以实现任意通道的短路、断路等故障模拟。NI TestStand 测试管理软件支持LabVIEW、LabWindows/CVI、C/C++、.NET等语言编写的测试用例集成，并支持ATLAS 和ATML 的标准导入，*编程即可快速而稳定地实现综测平台的集成工作。


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  反射内存卡电子故障注入与诊断 故障注入是指针对特定的故障模型，有意识的在目标系统中催出故障，加速其错误和失效的发生，通过分析系统对所注故障的回应信息，可以验证其容错和故障安全等信息。 对于*电子平台来讲，必须具有很高的运行稳定性、健壮性和可维修性。因此在*电子系统的设计、研发和测试过程中充分考虑各种异常状态可能带来的影响，是系统设计的重要内容。故障注入通过模拟电子设备及其接口可能发生的异常(