GE Phoenix 离线X光检测设备

时间：2020-03-23

GE phoenix microme|x/nanome|x 180kV高分辨率微焦点/纳米焦点X射线检测系统 可选三维CT功能 

特点 • 自主冷却和温度稳定控制的数字DXR平板探测器具有 高动态响应进行实时成像 • 细节分辨率可达0.5微米或0.2微米的180kV/20W高功 率亚微米/纳米X射线管 • 具有CAD文件导入的x|act软件可编程和自动检测 • 采用金刚石靶材，在同等质量影像条件下数据截取 的速度可快2倍 • 可选三维CT扫描功能，实现10秒的快速扫描

phoenix microme|x/nanome|x 高性能X射线检测系统
phoenix microme|x和nanome|x系列结合高分辨率二维X射线技术和CT技术于一体，性能优异且运行定位精确 高使得系统具有高效和可靠的特点，广泛应用于二维和三维离线检测要求：产品研发，失效分析，产品制造 和质量控制。 phoenix|x-ray x|act技术提供了简便的基于CAD文件导入的自动检测程序，具有微米级检测能力，特别是受益 于GE高动态响应和主动冷却特性的DXR平板探测器，有可达30fps刷新率，提供了**的实时清晰图像和高速 三维CT扫描性能。
高功率下高分辨率: diamond|window 相比于传统的铍窗口，microme|x DXR-HD采用金刚石窗口靶材，可以有更高 功率下更小的聚焦光点，保证了高输出功率下更高的分辨率 •  在实现同等影像水平下数据截取速度可快2倍 •  高功率下高分辨率 •  无毒靶材 •  在长期检测时间下改善聚焦光点的稳定性 •  高功率下低损耗，提高靶寿命
金刚石窗口 铍窗口 (相同射线参数: 130 kV, 11.4 W)
GE特有的高动态响应DXR平板探测器有增强闪烁体技术，开创了新一代的 高效实时成像检测工业标准。 •   1000x1000像素与30帧频全屏刷新率和低噪点的清晰成像品质，保证 快速实时成像检测 •  主动温度稳定控制系统保证精确可靠的检测要求 •  三维CT模式下的高速数据截取 •  达到0.5/0.2微米的细节分辨率可进行高性能失效分析 
高分辨率三维CT 对于小型样品的高级检测和三维分析，可选phoenix特有的CT技术 •   180 kV高功率X射线射线管技术，与DXR数字平板探测器和金刚石窗口 靶配合下具有快速影像截取，并结合phoenix快速数据重建软件，得 到高质量的检测结果 •   大体元分辨可小至2微米，nanome|x的nanoCT功能可提供更高清晰 度的影像

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词条说明
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