基于J750的S698PM芯片BSD测试方法

时间：2022-03-14

S698PM芯片是一款高性能、高可靠性、高集成度、低功耗的抗辐射多核并行处理器SoC芯片。该芯片集成了丰富的片上外设，可广泛应用于航空航天、大容量数据处理、工控、船舶、测控等应用领域；而J750是一款SOC芯片ATE（Test）测试机，测试结果比较被业界认可，市场占有率非常高。下面主要介绍在J750上开发S698PM芯片的BSD测试流程和注意事项。

文章编号：

J750 上 S698PM 的 BSD 测试

张志国

珠海欧比特有限公司, 珠海 519080

：S698PM反芯片是一款高、高、高、低功耗的多核SOC芯片，J750是SOC芯片测试的ATE；这里主要对J750上的S698PM芯片进行BSD测试。

关键词：SOC；S698PM; 工商管理硕士；吃; BSD；

1. 概述

随着SOC芯片系统的功能越来越复杂，一个芯片通常包括数字部分、模拟部分和相关的存储设备，甚至一些射频模块，这不仅提出了快、高效的ATE测试设备。要求高，还要考虑测试时间的成本，所以客户通常要求测试程序的前两个测试项目能够快速确定SOC芯片90%常见问题的缺陷。经过多年对SOC测试方法和测试原理的探索，前两项测试内容标准逐渐形成：一是电流功耗测试芯片测试，二是BSD测试项目流程。

2.S698PM芯片介绍

S698PM芯片是一款抗辐射、高性能、高可靠性、高集成度、低功耗的多核并行处理器SoC芯片；S698PM芯片集成了丰富的片上外设，包括常用的USB2.0主控、I2C主控、以太网控制器等功能模块；S698PM芯片支持RTEMS、eCOS、Linux等实时嵌入式操作系统，用户可以轻松实现嵌入式实时控制系统设计的高性能多核并行处理。

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S698PM芯片采用TMR技术对芯片内部所有逻辑单元进行三模冗余加固，并采用EDAC技术对内外存储器进行错误检测和纠错加固，因此芯片具有较高的抗辐射性。

S698PM是****量产嵌入式SPARC V8多核SOC芯片，对标LEON4核心版本，在功能和性能上均处于行业良好地位。S698PM 代表了当今 SPARC 嵌入式 SOC 芯片的较高水平。

3.BSD测试项目原理

BSD(-scan)的测试原理主要是利用芯片中的JTAG电路来检测芯片管脚电路是否存在功能缺陷。因此，SOC芯片中的JTAG电路主要有两个功能，可以通过模式选择引脚来设置。一是通过JTAG电路对SOC芯片内核的工作参数进行配置和调试，实现软件在线调试功能；另一个功能是通过JTAG端口注入扫描控制信号，进行芯片硬件电路的BSD测试或MBIST测试。

在芯片设计阶段，插入JTAG电路时，会在芯片的所有管脚接口中插入一个带时钟的触发器，将时钟信号连接到信号上。扫描链的串行互连相连，初始输入端与终端相连，较终输出端与终端相连，形成闭环测试链。最后，使用该工具生成BSD测试程序需要的文件，提供给测试机进行测试。

4. 基于J750的BSD测试方法

首先BSD测试需要准备测试向量文件，即IC设计工程师在插入JTAG电路时生成的边界扫描向量表文件，同时还要准备测试机所需的参数设置文件。这两个文件共同决定了信号的类型和信号随时钟周期的变化。

常见的信号类型有RH、RL、NR、ROFF、SBC、SBH、SBL等。时钟信号的一般类型是SBL，这样可以设置时钟的周期，控制脉宽，从而方便测试人员控制按键信号；其他信号类型一般为NR芯片测试，方便J750测试仪监测。

第二步，使用J750测试软件Patter功能模块将标准文件转换为J750可识别的格式文件，如下图1所示：

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第三步，利用J750的测试程序导入功能，将以上两个文件导入程序，完成测试机的参数设置等参数，并根据测试机的特点对参数进行微调， S698PM的时序要求，如下图2所示：

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第四步，设置BSD测试功能模块的参数，调用BSD测试程序所需的直流和交流参数，并归档。如下图3所示：

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第五步，执行 BSD Test 命令。测试过程中，如果结果不符合要求，微调表中的时间参数。测试结果报告如下图4所示：

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5. 结束语

本文简要介绍了使用-J750EX自动测试设备测试嵌入式SoC芯片S698PM的BSD测试原理及注意事项。从测试效果看，由于BSD测试方式与芯片内部电路关系不大，可以快速判断芯片管脚电路是否有缺陷，大大缩短了测试时间，从而节省了测试时间，减少了测试成本。BSD测试方法值得推广。

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