X射线荧光光谱仪是什么？

时间：2022-05-12

X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，例如油画和壁画。

一种射线式分析仪器,是X射线分析仪器的一种常用形式。X射线荧光光谱仪能分析原子序数 12～92的所有元素，选择性高，分析微量组分时受基体的影响小，在地质、采矿和冶金等部门应用很广。

X射线是用高速电子轰击原子的内层电子，使之处于高激发状态，同时外层的电子跃迁到缺少电子的内层轨道。在此过程中会伴随着以电磁波形式释放的能量。这种释放能量的电磁波能量大，波长小，肉眼不可见，称之为X射线。

如果用高速电子激发产生的X射线又作为激发源(可称之为一次X射线)去轰击别的原子的内层电子，同样可产生X射线，只是这种X射线的能量较一次X射线低，波长也较长，这种射线称为二次X射线或X射线荧光、荧光X射线。 X射线荧光的波长是以受激物质（待测物质）的原子序数为特征的，原子序数越大的物质波长越短。各种不同的元素都有本身的特征X射线荧光波长，这是用X射线荧光原理的X射线荧光光谱仪进行定性分析的依据；而元素受激发射出来的特征X 射线荧光的强度则取决于该元素的含量，这是定量分析的依据。

X射线荧光光谱仪的主要组成部分是一次X射线源和样品室、分光晶体和平行光管、检测器和记录显示仪器(见图)。一次X射线源用X光管，它产生的一次X射线轰击样品表面，使样品激发出二次X射线。二次X射线经平行光管变成一束平行光以后，投射到与平行光束呈夹角θ的分光晶体晶面上。射线在分光晶体面上的反射角与平行光束的夹角为2θ。分光晶体在分析过程中是回转的，即θ是连续变化的，θ的变化会使反射光的波长随之变化，故2θ的具体值是定性分析的依据。这种变化波长的反射线投射到与分光晶体联动的检测器上，检测器便输出一个与平面分光晶体反射线强度成比例的信号，它是定量分析的依据。记录显示仪表的记录纸移动的距离与2θ有关，所以记录下来的曲线就是荧光光谱图，其横坐标是波长，纵坐标是光强。分析光谱图就可以得到定性分析和定量分析结果。

X荧光光谱仪可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量剖析，元素局限13Al-92U，含量局限ppb至**，检出限到2pg。

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词条说明
X荧光光谱镀层测厚仪
X荧光光谱镀层测厚仪既满足原有微小和复杂形态样品的膜厚检测功能,又可满足有害元素检测及轻元素成分分析,被广泛应用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量。X荧光光谱镀层测厚仪配置01 独立的X/Y/Z轴控制系统02 微焦斑X光管 03 可变高压电源04 防撞板外加防撞激光保护检测器对仪器进行双重安全保护05 Fast-SDD探测器06 双激光定位装置07 标配可自动切换的准直
X射线荧光光谱仪的仪器类别及特点
X射线荧光光谱仪一种射线式分析仪器,是X射线分析仪器的一种常用形式。X射线荧光光谱仪能分析原子序数 12～92的所有元素，选择性高，分析微量组分时受基体的影响小，在地质、采矿和冶金等部门应用很广。X射线荧光光谱仪：仪器仪表、成份分析仪器、荧光光度计。指标信息1、发射源是Rh靶X光管，较大电流125mA，电压60kV，最大功率3kW。2、仪器在真空条件下工作，真空度<13pasca
rohs检测仪有哪些技术指标
RoHS检测仪就是欧盟RoHS测试标准的检测仪器。简单的说就是测试铅Pb，镉Cd，汞Hg，六价铬Cr6+，多溴二苯醚PBDE，多溴联苯PBB六种有害物质的仪器。元素分析范围从硫(S)到铀(U)元素含量分析范围为1PPm到9999%RoHS指令规定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br) 检测限较高达1PPM;测量时间: 60-200秒温度适应范围为15°C至30°C电源:交流220V+5V (
rohs检测仪技术原理有哪些
RoHS检测仪目前市场上常见的类型是X射线荧光分析仪，又分为能量色散型和波长色散型，能量色散型因其技术原理及结构比波长色散型简单，现市场上比较常见，其技术原理:特征X射线放射性同位素源或X射线发生器放出的X射线或「射线与样品中元素的原子相互作用，逐出原子内层电子。当外层电子补充内层电子时，会放射该原子所固有能量的X射线特征X射线。元素含量与特征X射线强度的关系不同元素特征X射线能量各不相同，依此进