波长色散X射线荧光光谱采用晶体或人工拟晶体根据bragg定律将不同能量的谱线分开,然后进行测量。波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源,可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素,因此测量速度通常比同时式慢,适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成,对测量速度要求高和批量试样分析, 顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。
X射线荧光光谱仪
能量色散X射线荧光光谱
能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪,分辨率较低的便携式光
X射线荧光光谱仪仪,和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器,如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器,它们不需要液氮冷却。近年来,采用电致冷的半导体探测器,高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步辐射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、放射性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式。
非色散谱仪
非色散谱仪不是采用将不同能量的谱线分辨开来,而是通过选择激发、选择滤波和选择探测等方法使测量分析线而排除其他能量谱线的干扰,因此一般只适用于测量一些简单和组成基本固定的样品。
全反射X射线荧光
如果n1>n2,则介质1相对于介质2为光密介质,介质2相对于介质1为光疏介质。对于X射线,一般固体与空气相比都是光疏介质。所以,如果介质1是空气,那么α1>α2(图2.20右图),即折射线会偏向界面。如果α1足够小,并使α2=0,此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1<α临界时,界面就像镜子一样将入射线全部反射回介质1中,这就是全反射现象。
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词条说明
X射线荧光光谱仪一种射线式分析仪器,是X射线分析仪器的一种常用形式。X射线荧光光谱仪能分析原子序数 12~92的所有元素,选择性高,分析微量组分时受基体的影响小,在地质、采矿和冶金等部门应用很广。X射线荧光光谱仪:仪器仪表、成份分析仪器、荧光光度计。 指标信息1、发射源是Rh靶X光管,较大电流125mA,电压60kV,最大功率3kW。2、仪器在真空条件下工作,真空度<13pasca
X射线荧光光谱仪另一方面,化学元素遭到高能光子或粒子的照耀,如内层电子被激起,则当外层电子跃迁时,就会放射出特征X射线。特征X射线是一种别离的不延续谱。假如激起光源为x射线,则受激发生的x射线称为二次X射线或X射线荧光。特征x射线显示了特征x射线光谱仪发生的进程。当人射x射线撞击原子中的电子时,如光子能量大于原子中的电子约束能,电子就会被击出。这一互相效果进程被称为光电效应,被打出的电子称为光电子
波长色散X射线荧光光谱采用晶体或人工拟晶体根据bragg定律将不同能量的谱线分开,然后进行测量。波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源,可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素,因此测量速度通常比同时式慢,适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成,对测量速度要求高和批量试样分析, 顺序式与
RoHs是《电气、电子设备中限制使用某些有害物质指令》(the Restriction of the use of certain hazardous substances in electrical and electronic equipment)的英文缩写。该标准将于2006年7月 1日开始正式实施,主要用于规范电子电气产品的材料及工艺标准,使之更加有利于人体健康及环境保护。该标准的目的在于
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