X光镀层测厚仪是采用磁性和涡流两种方法进行测厚的

时间：2022-06-12

X光镀层测厚仪可无损地测量磁性金属基体上非磁性涂层的厚度，以及非磁性金属基体上非导电覆层的厚度。本仪器具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量的检测仪器。仪器广泛运用于工业生产测厚中，包含钢板厚度、卷皮带厚度等，当然在实验室精细测量中也有运用，包含航空航天、科研开发等范畴。

X光镀层测厚仪作业原理：

测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。

1、磁性法：当测量头与覆盖层接触时，测量头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可导出覆盖层的厚度；

2、涡流法：利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场，当测量头与覆盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测量头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。

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词条说明
X光镀层测厚仪使用性能特点有哪些？
X光镀层测厚仪采用的是一种XRF光谱分析技术，X光管产生的X射线打到被测样品时可以击出原子的内层电子，出现壳层空穴，当外层电子从高轨道跃迁到低能轨道来填充轨道空穴时，就会产生特征X射线。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特征信息。 X光镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的*二次X射线的
x荧光镀层测厚仪在使用上拥有诸多优势
x荧光镀层测厚仪使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器，以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求，且的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作更人性化、更方便。工作原理： x荧光镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的*二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W
X光镀层测厚仪在日常作业中都应用了哪些原理？
X光镀层测厚仪是一种用于查看物体厚度的仪器仪表。在工业生产测厚中广泛运用。这类仪器，根据其测量办法的不一样，大致可以划分为以下几个种类：运用嵘湎摺⑩射线、y射线穿透特性的放射性厚度计；选用超声波频率改动的超声波厚度计以及选用涡流原理的电涡流厚度计；还有电容式厚度计等。此外，运用微波和激光技术制成厚度计，现在还处在研
X光镀层测厚仪采用磁性和涡流两种方法进行测厚
X光镀层测厚仪可对电镀液进行分析，不单性能优越，而且价钱**值，同比其他牌子相同配置的机器，X光镀层测厚仪为您大大节省成本。只需数秒钟，便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。**大/开放式的样品台，可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等