x荧光镀层测厚仪在使用上拥有诸多优势

时间：2022-06-12

x荧光镀层测厚仪使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器，以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求，且的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作更人性化、更方便。
工作原理：
x荧光镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的*二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
x荧光镀层测厚仪可应用于：
合金分析；镀层厚度分析；电镀液金属离子分析；磁性介质和半导体元素分析；土壤污染元素分析；过滤器上的薄膜元素分析；塑料中的有毒元素分析。
使用优势：
1、**高分辨率、**清摄像头、**便捷操作、**快检测速度、**人性化界面；
2、易于使用，一键操作，即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果；
3、有助于识别镀层成分的创新型功能；
4、机身结构小巧结实，外形十分漂亮，适合放置于陈列展室；
5、按下按钮的数秒之内，即可得到有关样件镀层厚度的结果；
6、使用PC机和软件，可以迅速方便地制作样件的检验结果证书；
7、用户通过摄像头及舱内照明系统，可看到样件测试位置，提升了用户测试信心；
8、有X射线防护锁，只有在封闭状态下才发射X射线，安全、可靠的保证客户使用。

苏州实谱仪器有限公司专注于手持式光谱仪,X荧光光谱仪,rohs检测仪器等

词条
词条说明
x射线镀层测厚仪在检测时具有什么原理？
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