分享一些有关“X光镀层测厚仪”的使用特点

时间：2022-06-12

CM166026，铁镍钼磁环CM166026，韓國CSC CM166026，钼坡莫合金MPP磁芯，
磁导率：26U，AL:15, 颜色：灰色
对应行业料号:
铁镍钼磁环55122A2；
ARNOLD MP-065026-2或A-267015-2；

韓國CSC  CM166026
喷涂前尺寸：16.5mm外径X10.2mm内径X6.35mm高度
喷涂后尺寸：17.40 mm外径X9.53mm内径X7.11mm高度
磁导率（U）	AL±8%	零件号	额定直流电阻
欧姆/毫微亨
（Ω/mh）	B/NI
高斯/安培-匝数*
（Gauss/Amp.Turn*）
26	15	CM166026	0.778	7.96（＜1500高斯）
  
物理特性	 	绕组匝长度
窗口面积	71.3毫米2	140600圆密耳		绕组因数	长度/匝
截面面积	19.2毫米2	0.0298英寸		**（单位值）	3.22厘米	0.1057英尺
路径长度	41.2毫米	1.619英寸		60%	2.82厘米	0.0926英尺
体积	789毫米3	0.048英寸3		40%	2.44厘米	0.0798英尺
重量-钼坡莫	6.78毫克	0.015磅		20%	2.26厘米	0.0742英尺
面积乘积	0.1369厘米4	0.0029英寸4		0%	2.20厘米	0.0721英尺
 
咨询订购电话：0756-2622736 李先生
邮箱：ntlch2004@
QQ：

词条
词条说明
分析X-RAY镀层测厚仪的工作原理及特点
X-RAY镀层测厚仪是一种多功能实用型便携式测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。通过使用不同的测头，还可满足多种测量的需要。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业*的仪器。 X-RAY镀层测厚仪的工作原理：镀层
详细解析x荧光镀层测厚仪的应用和性能
x荧光镀层测厚仪采用X荧光分析技术，可以测定各种金属镀层的厚度，包括单层、双层、多层及合金镀层等，可以进行电镀液的成分和浓度测定。 x荧光镀层测厚仪是能谱分析方法，属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时，其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自特征的X射线，不同的元素有不同的特征X射线、探测器探测到这些特征X射线后，将其光信号
X光镀层测厚仪详细分析功能说明
X光镀层测厚仪综合性能:镀层分析、定性分析、定量分析、镀液分析；镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层. 镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,*购买标准药液.
有关x射线镀层测厚仪的系统结构，以下有详细解说
x射线镀层测厚仪采用内置探头一体化设计、抗干扰技术、数字显示，具备机型小巧、操作简捷、待机时间长等特点；且具有自动关机、欠电指示、统计、系统/零点/两点校准功能。它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。x射线镀层测厚仪的系统构成如下： 1、