X光镀层测厚仪已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。X射线是无接触无损测量,测量范围较小,X射线法可测较薄镀层、双镀层、合金镀层。X射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且**,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。
优势和特点:
X光镀层测厚仪拥有**高分辨率、**清摄像头、**便捷操作、**快检测速度、**人性化界面,易于使用,一键操作,即可获得镀层厚度及组成成份的分析结。有助于识别镀层成分的创新型功能。机身结构小巧结实,外形十分漂亮,适合放置于陈列展室。按下按钮的数秒之内,即可得到有关样件镀层厚度的J确结果。使用PC机和软件,可以迅速方便地制作样件的检验结果证书。用户通过摄像头及舱内照明系统,可看到样件测试位置,提升了用户测试信心。分析仪测试数据可以下载和上传网络,检测结果易于查看和分享。有X射线防护锁,只有在封闭状态下才发射X射线,安全、可靠的保证客户使用。
苏州实谱仪器有限公司专注于手持式光谱仪,X荧光光谱仪,rohs检测仪器等
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词条说明
X光镀层测厚仪采用的是一种XRF光谱分析技术,X光管产生的X射线打到被测样品时可以击出原子的内层电子,出现壳层空穴,当外层电子从高轨道跃迁到低能轨道来填充轨道空穴时,就会产生特征X射线。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特征信息。 X光镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的*二次X射线的
x射线镀层测厚仪采用内置探头一体化设计、抗干扰技术、数字显示,具备机型小巧、操作简捷、待机时间长等特点;且具有自动关机、欠电指示、统计、系统/零点/两点校准功能。它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。x射线镀层测厚仪的系统构成如下: 1、
X-RAY镀层测厚仪的原理: 被分析样品在X射线照射下发出的X射线,它包含了被分析样品化学组成的信息,通过对X射线荧光的分析确定被测样品中各组分含量的仪器就是X射线荧光分析仪。由原子物理学的知识,对每一种化学元素的原子来说,都有其特定的能级结构,其核外电子都以其特有的能量在各自的固定轨道上运行。内层电子在足够能量的X射线
x荧光镀层测厚仪使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器,以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求,且的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便。 工作原理: x荧光镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的*二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W
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