详细解析x荧光镀层测厚仪的应用和性能

时间：2022-06-11

　 x荧光镀层测厚仪采用X荧光分析技术，可以测定各种金属镀层的厚度，包括单层、双层、多层及合金镀层等，可以进行电镀液的成分和浓度测定。
x荧光镀层测厚仪是能谱分析方法，属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时，其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自特征的X射线，不同的元素有不同的特征X射线、探测器探测到这些特征X射线后，将其光信号变为模拟信号，经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理，计算机的特殊应用软件根据获取的谱峰信息，通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的各类及各元素的镀层厚度。
应用领域：
应用于镀银、镀镍、镀金、镀锌等，广泛应用于电子电器、高压开关、电网、汽车配件五金工具、PCB板、半导体封装、电子连接器等。

苏州实谱仪器有限公司专注于手持式光谱仪,X荧光光谱仪,rohs检测仪器等

词条
词条说明
X-RAY镀层测厚仪的性能好，实用性强
X-RAY镀层测厚仪的原理：被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对X射线荧光的分析确定被测样品中各组分含量的仪器就是X射线荧光分析仪。由原子物理学的知识，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以其特有的能量在各自的固定轨道上运行。内层电子在足够能量的X射线
分享一些有关“X光镀层测厚仪”的使用特点
X光镀层测厚仪已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。X射线是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测较薄镀层、双镀层、合金镀层。X射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用X射线镀层测厚仪向微型、
x射线镀层测厚仪在检测时具有什么原理？
x射线镀层测厚仪已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。使用x射线镀层测厚仪的主要测量方法有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中**种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多
有关x射线镀层测厚仪的系统结构，以下有详细解说
x射线镀层测厚仪采用内置探头一体化设计、抗干扰技术、数字显示，具备机型小巧、操作简捷、待机时间长等特点；且具有自动关机、欠电指示、统计、系统/零点/两点校准功能。它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。x射线镀层测厚仪的系统构成如下： 1、