X光镀层测厚仪详细分析功能说明

时间：2022-06-11

X光镀层测厚仪综合性能:镀层分析、定性分析、定量分析、镀液分析；
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,*购买标准药液.
性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
X光镀层测厚仪性能特点及优势：
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自动定位测试高度满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求。φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求，定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐。鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点，高分辨率探头使分析结果更加，微小测试点更。X光镀层测厚仪优势在于满足客户要求的情况下，价格更优惠、售后服务更方便，维护成本更低。
X光镀层测厚仪的测量原理：
物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。X光镀层测厚仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

苏州实谱仪器有限公司专注于手持式光谱仪,X荧光光谱仪,rohs检测仪器等

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词条说明
X光镀层测厚仪采用磁性和涡流两种方法进行测厚
X光镀层测厚仪可对电镀液进行分析，不单性能优越，而且价钱**值，同比其他牌子相同配置的机器，X光镀层测厚仪为您大大节省成本。只需数秒钟，便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。**大/开放式的样品台，可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等
x射线镀层测厚仪在检测时具有什么原理？
x射线镀层测厚仪已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。使用x射线镀层测厚仪的主要测量方法有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中**种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多
有关x射线镀层测厚仪的系统结构，以下有详细解说
x射线镀层测厚仪采用内置探头一体化设计、抗干扰技术、数字显示，具备机型小巧、操作简捷、待机时间长等特点；且具有自动关机、欠电指示、统计、系统/零点/两点校准功能。它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。x射线镀层测厚仪的系统构成如下： 1、
X光镀层测厚仪使用性能特点有哪些？
X光镀层测厚仪采用的是一种XRF光谱分析技术，X光管产生的X射线打到被测样品时可以击出原子的内层电子，出现壳层空穴，当外层电子从高轨道跃迁到低能轨道来填充轨道空穴时，就会产生特征X射线。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特征信息。 X光镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的*二次X射线的