RoHS检测仪的分析原理

时间：2022-07-01

RoHS检测仪就是X射线荧光光谱仪，其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。X射线荧光光谱仪通常可分为两大类，波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)，波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与控制部件，相对简单。
波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特征信息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：
Q=kE式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特征信息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
江苏天瑞仪器股份有限公司专注于ROHS检测仪,X荧光测厚仪,x射线光谱仪等

词条
词条说明
膜厚仪检测镀层厚度的原理
磁性测厚法是利用样品与标准磁铁之间的吸引力变化转化为涂层厚度。该方法仅适用于对磁性能敏感的基体上的非磁性涂层，如钢基体上的铜、锌、锡等涂层。钢件上的镍涂层不能很好地测量结果。磁性测厚法的优点是为钢基体上的非磁性涂层提供了一种**的测量方法，其精度可达85%-90%。测量样品的粗糙度对测量结果
RoHS2.0检测必须要两台仪器吗
RoHS2.0检测必须要两台仪器吗？答案是要的。因为从2020年开始，RoHS就出了新法规，把领苯四项有害物质纳入RoHS较新管控，也叫RoHS2.0法规。这样就在原来的六项有害物质增加到十项，而新增的领苯四项有害物质是化合物，不可能用荧光光谱仪来检测，而需要用到热裂解仪器来检测。导致如果想测十项有害物质，不但需要一台荧光光谱仪，还需要一台热裂解仪器来检测。
膜厚仪可以测镀层厚度吗
目前，仪器测量厚度的方法有很多。例如，磁性法、涡流法、β射线反向散射法、荧光X射线法等原理采用探头或头等测厚仪直接测量镀层。磁性法和涡流法是常用的便携式膜厚仪。采用磁性法的膜厚计可以**、准确地检测磁性金属底座上各种非磁涂层的厚度。例如，可以用Fe基探头测量钢材、镀铬层、镀铜层、镀锌层、油漆层、粉末喷涂
膜厚仪的种类
事实上，在行业的发展中，这类仪器主要分为磁感应型、电涡流型和荧光X射线型三种类型；*种类型主要使用磁铁感应的距离，使磁铁通过探头通过非铁磁铁覆盖层，较终进入磁铁体的仪器，以确定通过磁通的大小可以达到的目的。随着行业的发展，这种类型在使用过程中的误差范围越来越小，范围越来越大，因此通常用于测量油气层。电磁流型也采用了