达克罗涂层镀层厚度快速无损测厚仪

时间：2022-07-17

智能型Thick800A是天瑞仪器股份有限公司的集多年X荧光测厚仪经验，专门研发的一款上照式膜厚测试仪。仪器外观简洁大方，通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光定位和保护系统，实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析。

性能优势

高端配置——采用高分辨率SDD探测器;分辨率高达140eV
上照式设计——实现微小不规则表面样品如弧形，拱上照式设计形，凹槽，螺纹等异形的快、准、稳高效检测
高精度自动化的X轴Y轴Z轴的联动装置实现对样品的精准对焦快速检测
采用高度自动定位激光，可快速精准定位测试高度，以满足不同尺寸的镀层测试
多种准直孔可供选择——准直孔：0.05*0.3mm；Ф0.1mm；Ф0.2mm；Ф0.3mm；Ф0.5mm
定位精准——样品可快速精准定位
操作简易——全自动智能集成设计，让检测轻松完成

技术优势

仪器配置高

图1

图2

智能型Thick 800A采用的是业内较高端的SDD半导体电制冷探测器，分辨率可达140eV,可以很好的区分相邻元素谱峰。

以Au/Ni/Cu镀层为例，正比计数盒仪器谱图如图一，从谱图可以看出铜镍两元素的谱峰重叠严重，金的峰形与样品本底重叠；不利于元素准确分析。

图二是半导体SDD仪器测试Au/Ni/Cu的光谱图，从谱图可以看出铜镍金这三个元素的谱峰得到很明显的区分，有利于元素精准分析。

聚焦光路设计

智能型Thick 800A采用*特的光路交换装置，让X射线与摄像光处于同一垂直线，达到激光点与测试点一体，且X光高度聚焦；配合FP软件达到对焦变焦功能，实现微小不规则样品的精准测试；高集成的光路交换装置与接收器的角度可缩小一倍，有效的减少弧度倾斜放样带来的误差。

特制滤波片实现低背景测量

通过特制滤波片可以有效降低X荧光的吸收与增强作用，减小背景散射，提高对**薄金属元素的检出限（较低可以达到0.005um），实现**薄金属镀层厚度分析。

高精度定位技术

高精度移动平台可精确定位测试点，平台电机重复定位精度小于0.005mm；移动平台可通过测试软件可视化操作：鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点。

FP算法

智能型Thick 800A分析核心技术----FP算法

元素厚度精准检测

微区分析、薄膜分析、高级次谱线分析

更加专业和人性化的测试软件

①主界面增加曲线快速切换功能；

②鼠标移动快捷键更改不需要ctrl，鼠标点哪，样品平台就会移动到哪里，更加方便客户测试；

③镀层厚度自动判定，客户可以根据需要自定义判定标准；

④工作曲线界面加入备注名称可编辑，并可以显示在主界面曲线界面，对英文元素做备注说明，方便客户区分，界面对客户更加友好

⑤自动生成测试报告，测试历史数据查看、检索等

⑥行业解决方案，如精密部件钕铁硼镀镍镀铜再镀镍，电泳漆测厚度，铝塑膜测试镀铝的厚度等

词条
词条说明
膜厚仪的种类
事实上，在行业的发展中，这类仪器主要分为磁感应型、电涡流型和荧光X射线型三种类型；*种类型主要使用磁铁感应的距离，使磁铁通过探头通过非铁磁铁覆盖层，较终进入磁铁体的仪器，以确定通过磁通的大小可以达到的目的。随着行业的发展，这种类型在使用过程中的误差范围越来越小，范围越来越大，因此通常用于测量油气层。电磁流型也采用了
膜厚仪的主要功能
1.薄膜厚度计适用于测量金属、塑料、陶瓷、玻璃等产品的厚度，因为这些产品是良好的声音导体，可以实现**的检测服务，帮助我们*好地检测产品。2.膜厚仪还可配备多种不同频率同晶片尺寸的双晶，实现的产品厚度测量。3.膜厚仪还具有探头零校准和两点校准功能。该功能可以自动纠正系统检测中产生的误差，提高设备的检测效率。4.该设备还可以通过已知的产品厚度来测量产品的声速，帮助用户*好地测量声速。5.膜厚仪还具有
RoHS2.0检测仪需要建立独立实验室吗？
RoHS2.0检测仪需要建立独立实验室吗？答案是不用的。RoHS2.0检测仪是一台性能比较精密的仪器，目前世界上只有两种仪器能检测RoHS2.0有害物质，一种是液相色谱仪，这种仪器需要用专门的实验室才行，对周围环境要求比较高。另外一种是气相色谱仪，这叫热裂解脱附仪，它不需要独立实验室，只需要在桌子上摆放就行，而且操作方便，一键全自动，做样效率快，而且无污染
膜厚仪可以测镀层厚度吗
目前，仪器测量厚度的方法有很多。例如，磁性法、涡流法、β射线反向散射法、荧光X射线法等原理采用探头或头等测厚仪直接测量镀层。磁性法和涡流法是常用的便携式膜厚仪。采用磁性法的膜厚计可以**、准确地检测磁性金属底座上各种非磁涂层的厚度。例如，可以用Fe基探头测量钢材、镀铬层、镀铜层、镀锌层、油漆层、粉末喷涂