XAVU是一款一机多用型X荧光光谱仪,搭载全新智能抽真空系统,同时应用了先进的EFP算法和微光聚集技术,既保留了**测厚仪检测微小样品和凹槽的膜厚性能,又可满足成分分析,尤其是对S引、P、S、Al、Mg等轻元素有较佳的激发效果,大大提高了检测效率。产品广泛应用于各类产品的质量管控、来料检验和生产工艺控制的测量使用。接着就跟X荧光光谱仪生产厂家一六仪器来了解一下吧。
一六仪器研发团队,潜心研发、打造XAVU智能抽真空仪器,外观更加简洁大气。仪器在对轻元素涂镀层厚度及成分测试上,精度更高,数据更加稳定。仪器可自动检测密闭性,准确控制真空度,搭载EFP核心算法,能够快、准、稳的做出数据分析。
XAVU X荧光光谱仪的性能优势有哪些?
1,搭载微聚焦加强型X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统,较小测量面积达0.03m㎡;
2.拥有无损变焦检测技术,手动变焦功能,可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围0-30mm;
3.核心EFP算法,可对多层多元素,包括同种元素在不同层都可快准稳的做出数据分析(钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB,精准检测**层Ni和*三层Ni的厚度);
4.配置智能抽真空系统,屏蔽大气对低能元素的影响,对Al,S引,P等轻元素涂镀层厚度以及成分测试精度更高,数据更加准确稳定;
5.装配SDD硅漂移探测器,分辨率更高,能量线性好,较高的峰背比;
6.配置更高效数字多道技术,测试速度更快,计数率达到100000CPS,精度更高;
7.涂镀层分析范围:锂Li(3)·轴U(92);
8.成分分析范围:钠Na(11)-轴U(92);
9.RoHS、卤素有害元素检测;
10.人性化封闭软件,自动判断故障提示校正及操作步骤,避免误操作;
11.标配4准直器自动切换,较小测量面积可达0.03m㎡;
12.配有微光聚集技术,较近测距光斑扩散度小于10%;
以上就是X荧光光谱仪生产厂家一六仪器给大家整理的全部内容,如果大家想要了解更多关于X荧光光谱仪的内容,欢迎咨询我们。一六仪器专注于光谱分析仪器研发、生产、销售和服务。公司产品广泛的应用于环保、涂镀层、粮食、地质地矿、电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子、航空航天等制造领域。
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词条说明
光谱测厚仪本身的分辨力和精细的光谱辨析效果也为后续的测量质量带来了品质,这种光谱仪装置其本身的效果要表现出稳定的质量,影响光谱仪检测质量的因素。接下来和一六仪器一起了解一下。一、相应传导技术的水平和探测装置的技术能力由于待测物质体积的限制相应的采样方法必须要更加灵活且更加可靠,而我国广受**的光谱测厚仪使用方法会受到这种探测装置知识能力的影响,由于其本身的光纤信号和相应的传输作用有着显着的差异,后
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