利用手持式光谱仪K-8000检测金属

时间：2022-08-03

利用手持式光谱仪K-8000检测金属

板状、块状、带状、方管状、中等规格柱状和锥体状（截面）材料等易获得能完全覆盖测量窗口（和接触窗口）的检测面，进而取得较佳检测结果，测试圆管（柱）状、锥管状等材料时，轴向测试优于切线向，直径大于11 mm时，两个方向的检测结果基本一致（直径在12~63 mm之间时，接触窗口切线向没有感应）；检测小规格柱状、管状以及丝状材料，适当延长测试时间，并用已定值的实物样品校正，有利于提高正确度。

轻元素的特征x射线能量低、荧光产额低，易被空气吸收，其检测对HXRFS 和试样表面要求较高，尽管在提高轻元素检测结果的正确度、精密度等方面仍有提升空间，但检测结果基本满意。

随着手持式X射线荧光光谱仪硬件技术、分析软件技术以及应用技术进步，HXRFS已从废料分拣、混料排查、批量抽查、产品筛查与普查、金属材料牌号鉴别等的定性、半定量分析阶段，逐步迈进定量分析时代。

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手持式光谱仪的滤光片对测样结果有什么影响？
手持式光谱仪的滤光片对测样结果有什么影响？在手持式光谱仪厂商提供的参数表中，会有一项叫做“滤光片”的参数，往往会写一些元素名称，比如铝Al, 钨W等。在诸如检测铝合金、土壤等材料的过程中，经常会听到“滋~滋~”声，这其实是手持式光谱仪内部电机转动的声音，在切换不同的滤光片。那么，滤光片对我们检测的材料，检测的元素到底有什么影响？科迈斯手持式光谱仪K-8000中光管、滤光片、样品三者的结构示意图&n
手持式XRF光谱仪探测器如何选择
SDD还是PIN：您的手持式XRF分析仪需要哪种探测器？在购买手持式XRF分析仪时，确定需要硅漂移探测器（SDD）还是PIN探测器是您需要做出的首要选择之一。科迈斯KMX-RAY XRF系列中的两款仪器就配备了两种不同的探测器：K-8000分析仪装配有Si-PIN探测器(美国MOXTEK)，而K-800、K-8000PLUS分析仪装配有SDD探测器(德国KETEK)。SDD对比PIN：它
科迈斯KMX-RAY土壤污染现场筛查解决方案
随着**建筑业的蓬勃发展，尤其是在中国、菲律宾和英国这样的国家，相关机构需要看他们如何去管理建筑工地现场污染物的筛查。多年来重元素被用在许多工业，农业，及国内的应用。这有时导致它们在特定的地理区域，如旧工业或采矿地点积累。由于其对人类健康的有害影响，世界各地许多公共卫生和环境部门已制定了土壤筛选和补救方案，以尽量减少和防止暴露。以美国为例，其环境保护署（EPA）已实施土壤筛选指导（SCG）提供一个
手持式合金分析仪的产品特点
手持式合金分析仪是一种基于XRF(X Ray Fluorescence,X射线荧光)光谱分析技术的光谱分析仪器，主要由X光管、探测器、CPU以及存储器组成。手持式合金分析仪是一种XRF光谱分析技术，X光管产生的X射线打到被测样品时可以击出原子的内层电子，出现壳层空穴，当外层电子从高轨道跃迁到低能轨道来填充轨道空穴时，就会产生特征X射线。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量