手持式光谱仪的滤光片对测样结果有什么影响?

    手持式光谱仪的滤光片对测样结果有什么影响?


    在手持式光谱仪厂商提供的参数表中,会有一项叫做“滤光片”的参数,往往会写一些元素名称,比如铝Al, 钨W等。在诸如检测铝合金、土壤等材料的过程中,经常会听到“滋~滋~”声,这其实是手持式光谱仪内部电机转动的声音,在切换不同的滤光片。那么,滤光片对我们检测的材料,检测的元素到底有什么影响?

    科迈斯手持式光谱仪K-8000中光管、滤光片、样品三者的结构示意图


                    科迈斯仪器手持式光谱仪

    X射线荧光的简单原理是光管发出X射线,照射到样品表面产生荧光,由探测器检测样品发出的荧光,根据其特性来判断所含哪些元素及其含量。而从X射线光管发出的X射线对检测结果具有非常重要的作用。

    首先X射线光管决定了这台手持式X射线荧光光谱仪能够检测哪些元素。

    科迈斯KMX-RAY XRF知识介绍:

    原子具有波动性和粒子性,每种元素的波动性就用波长nm来表示,粒子性就用能量KeV来表示。手持式光谱仪测的是粒子元素。下面这张图就是一张用元素粒子能量来表示的元素周期表,元素越往后,能量越高。


    光管发出的X射线不是无限的,而是有固定能量的,比如科迈斯K-8000设定的光管电压为35KeV,那么上图中,凡是元素周围四个能量中有一个小于35 KeV,这个元素就能够被K-8000手持式光谱仪检测。如果四个能量都**光管设定的电压,那么这个元素就测不了了。

    但是能测并不代表测得准,测得低。对于有些含量很低的样品,要有办法能够把检测元素的噪声降低,这样才能分辨清楚检测的元素。对于含量比较高但是对检测稳定性有要求的元素,又要有办法把元素的信号提高,这样才能稳定。所以滤光片就是一种非常好的解决问题的手段。下图是用Ag靶的光管采用不同滤光片得到的X射线光管谱图。编号1这张谱图是没有用滤光片得到的。因为Ag靶的原因,在较左侧的低能量区域有个很高的峰,这个峰就影响了比如镁Mg,铝Al,硅Si这些元素的检出限,因为只有元素的峰**编号1这段线才能被仪器读出有这个元素的峰,而这么高的峰往往含量是较高的。所以不用滤光片的Ag靶光管很难测得低含量的轻元素。但是相反的是,因为这一段光管的能量很强(相对编号2和编号3),所以镁Mg,铝Al,硅Si这些元素会得到很好的激发,那么像铝合金这一类含高含量镁Mg,铝Al,硅Si的材料就很适合不用滤光片来检测了。


    科迈斯(深圳)科学仪器有限公司专注于手持式X荧光光谱仪,手持式XRF合金分析仪,手持式直读光谱仪等

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    词条说明

  • 手持式合金分析仪的产品特点

    手持式合金分析仪是一种基于XRF(X Ray Fluorescence,X射线荧光)光谱分析技术的光谱分析仪器,主要由X光管、探测器、CPU以及存储器组成。手持式合金分析仪是一种XRF光谱分析技术,X光管产生的X射线打到被测样品时可以击出原子的内层电子,出现壳层空穴,当外层电子从高轨道跃迁到低能轨道来填充轨道空穴时,就会产生特征X射线。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量

  • 手持式XRF光谱仪探测器如何选择

    SDD还是PIN:您的手持式XRF分析仪需要哪种探测器?在购买手持式XRF分析仪时,确定需要硅漂移探测器(SDD)还是PIN探测器是您需要做出的首要选择之一。科迈斯KMX-RAY XRF系列中的两款仪器就配备了两种不同的探测器:K-8000分析仪装配有Si-PIN探测器(美国MOXTEK),而K-800、K-8000PLUS分析仪装配有SDD探测器(德国KETEK)。SDD对比PIN:它

  • 如何选择手持式光谱仪的靶材?

    手持式光谱仪主要有X射线管、探测器和其他部件组成。其中X射线管的靶材对手持式光谱仪的应用和测试功能有着重要的作用,因此,客户要根据自己的使用领域选择合适的靶材。本篇分享一下选择手持式光谱仪靶材的方法以及各种靶材在测试元素时的优缺点,希望能对大家有所帮助:Ta钯, W 钯:对8-10keV 的特征线能有效的过滤掉– 使激发的光谱更加平滑,背景更低。不能测 Mg ,可以测 Al, Si。Rh钯:适合测

  • 手持式光谱分析仪用于稀土元素的识别和勘探

    稀土元素包含17种元素,一般会与钍(Th)和铀(U)归为一类。奥林巴斯手持式XRF软件可以检测一些稀土元素:镧(La)、铈(Ce)、镨(Pr)、钕(Nd)、钪(Sc)、钇(Y),以及一些靠近稀土元素的元素:钍(Th)、铀(U)、铯(Cs)和钡(Ba)稀土元素(REE)。这17种稀土元素对绿色能源革命和几乎所有行业的生产都至关重要,促进了在国内生产更多这些金属的需求。因此,实时识别这些材料具有很大的

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