背景 某产商反映其产品PCBA板存在焊接后物料易脱落之失效现象(PCBA板及脱落物料见下图),为查找其脱落之根本原因,故委托我实验室对其产品物料及PCBA板进行失效分析。 PCBA板及局部放大图 PCBA板及局部放大图 1) 物料未脱落样品推力及切片+SEM分析 小结:推力测试验证失效现象存在。切片+SEM分析发现物料侧IMC层厚度在1.36um~3.29um,存在大量孔洞及裂纹,严重影响焊接强度。此为焊接不足之直接原因。 2) 物料已脱落样品断面SEM+EDS分析 小结:物料已脱落样品断面SEM分析发现,断面存在异常,微观呈韧窝断裂形貌(韧窝断裂形貌多为微孔扩大集聚导致)。EDS成分分析发现断口边缘存在氧化现象。 3) 物料端断面切片+EDS分析 小结:断面切片+EDS成分分析发现,物料Pin镀层为Cu/Zn,Cu层厚度1.96um~2.09um,Zn层厚度4.71um~4.97um,在Pin断面弯屈处存在大量缺口。是导致后期焊接产生气孔和裂纹的主要原因。 4) 物料表面SEM+EDS成分分析 小结:物料表面SEM+EDS成分分析发现,物料Pin镀层表面存在大量裂纹,EDS成分分析发现Cu元素,存在露铜现象。直接影响镀层性能,导致后期焊接强度不足。 结论及改善建议 1)PCBA板上物料焊接强度不足,易发生脱落。 2)物料侧IMC存在大量裂纹及孔洞,此为焊接强度不足直接原因。 3)焊接断裂面存在异常,微观呈韧窝断裂形貌(韧窝断裂形貌多为微孔扩大集聚导致),且有轻微氧化现象。 4)物料Pin镀层为镀Cu再镀Sn,镀Sn层表面存在大量裂纹,有露铜现象,会导致焊接后IMC层产生裂纹及孔洞。 5)加强物料管控,对来料进行必要检测。
试验方案:
优尔鸿信检测技术(深圳)有限公司专注于高低温测试,光老化测试,振动冲击测试,IP防护等级测试,盐雾腐蚀测试,HALT测试,sem+eds测试,清洁度测试,工业CT扫描等, 欢迎致电 15827322876
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词条说明
集成电路(IC)检测是确保其质量和性能的关键步骤,以下是一些常用的检测方法:一、外观检查这是较基本的检测方法。通过肉眼或借助放大镜来检查 IC 的引脚是否有弯曲、折断、氧化等情况。同时,查看芯片表面是否有划痕、裂纹、污渍或其他物理损坏。对于封装体,检查其标记是否清晰、完整,确保型号等信息准确无误,因为标记错误可能会导致使用错误的芯片。二、功能测试在线测试(ICT)这是在电路板上对 IC 进行测试的
电子电气产品在冲击试验中,不同类型的缓冲材料对冲击能量吸收的效果有何差异?
在电子电气产品冲击试验中,不同缓冲材料对冲击能量吸收效果存在显著差异。首先是泡沫塑料。它是常见的缓冲材料,具有质轻、成本较低的特点。泡沫塑料的泡孔结构使其能够通过压缩变形来吸收冲击能量。当产品受到冲击时,泡沫塑料内部的泡孔被挤压,空气被压缩,将冲击能转化为空气的内能和材料的弹性势能。例如,聚苯乙烯泡沫(EPS)在吸收冲击能量时,其闭孔结构能有效地分散能量,对一些小型电子设备,如手机、MP3 播放器
金属材料镀层厚度检测主要有以下几种方法:一、量具法千分尺测量法这是一种较为简单直接的方法。对于镀层较厚且精度要求不是较高的情况可以使用。使用千分尺测量镀前和镀后的工件尺寸,两者差值即为镀层厚度。但是这种方法的精度有限,因为它受到工件形状、测量位置以及人为操作误差的影响。例如,当工件表面不够平整或者形状不规则时,测量的重复性和准确性就会大打折扣。二、显微镜法光学显微镜法对于较厚的镀层(大于 1μm)
金属材料晶粒尺寸检测有哪些常用方法?它们的精度和适用范围分别是怎样的?
光学显微镜法原理和操作:这是较基本的方法。通过对金属材料进行适当的金相制备(如切割、研磨、抛光和腐蚀),使晶粒边界显现出来,然后在光学显微镜下观察。利用显微镜的放大功能,可以直接测量晶粒的尺寸。精度:精度相对较低,一般可以精确到微米级别。例如,对于晶粒尺寸在 10 - 100 微米的材料,能够得到比较准确的测量结果,但对于亚微米级别的晶粒,测量就比较困难。适用范围:适用于晶粒尺寸较大(通常大于 1
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