形位公差
指的是加工零部件存在尺寸公差,零部件几何位置点、线、面的形状位置,实际尺寸相对于理想尺寸总是会存在误差,只是误差范围大小不同而已,这种几何形状差异,统称为形位公差。
优尔鸿信精密量测实验室,认可CMA/CNAS资质,拥有独立的超精密尺寸测量中心,提供基于ASME Y14.5.1-2019标准的,轮廓度公差测试实验室服务,提供产品几何尺寸测量分析报告。
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如何采用光谱分析法检测电子电器产品中镍镀层的厚度及其释放潜力?
采用光谱分析法检测电子电器产品中镍镀层的厚度及其释放潜力,通常可以使用以下步骤:首先,准备好待检测的样品,确保其表面清洁、无损伤和污染物,以获得准确的检测结果。常用的光谱分析方法如 X 射线荧光光谱法(XRF),利用 X 射线激发样品中的原子,产生特征荧光 X 射线。通过测量这些荧光 X 射线的能量和强度,可以确定样品中元素的种类和含量。对于镍镀层厚度的检测,XRF 能够根据镍元素的特征谱线强度来
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