冠亚制冷高低温冲击测试系统与传统试验箱的区别介绍

时间：2023-03-03

冠亚制冷高低温冲击测试系统与传统的试验箱存在一定的差异，在工作原理以及产品特点都是不一样的，具体有哪些呢？

一、工作原理区别：

高低温冲击测试系统给芯片、模块、集成电路板、电子元器件等提供准确且快速的环境温度。是对产品电性能测试、失效分析、可靠性评估的仪器设备。高低温冲击测试系统输出气流罩将被测试品罩住，形成一个较密闭空间的测试腔，试验机输出的高温或低温气流，使被测试品表面温度发生剧烈变化，从而完成相应的高低温冲击试验；

制冷高低温冲击测试系统可针对众多元器件中的某一单个IC或其它元件，将其隔离出来单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件，与传统冷热冲击试验箱相比，温变变化冲击速率更快。

二、产品特点区别：

高低温冲击测试系统采用流体温度控制技术，机械制冷，*液氮，触摸屏操作，人机交互界面，支持测试数据存储，过热温度保护，加热模式下，冷冻机可切换成待机模式，以减少电力消耗，干燥气流持续吹扫测试表面，防止水气凝结。

高低温冲击测试系统变温速率更快，温控精度：±1℃，实时监测待测元件真实温度，可随时调整冲击气流温度，对测试机平台上的IC进行温度循环/冲击，传统高低温箱无法针对此类测试，对整块集成电路板提供准确且快速的环境温度。

冠亚制冷高低温冲击测试系统广泛运用在半导体制程中对反应腔室控温、热沉板控温及需要传热介质不可燃流体控温场所，适用于半导体芯片制造、芯片器件、航空电子设备中的制冷加热温度控制。

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