冷热冲击试验箱可用于半导体芯片的测试

时间：2023-03-21

芯片(chip)，又称微芯片（microchip），是集成电路的载体。一般而言，芯片（IC）泛指所有的半导体元器件，是在硅板上集合多种电子元器件实现某种特定功能的电路模块。它是电子设备中*重要的部分，承担着运算和存储的功能。

温度的改变对半导体的导电能力、极限电压、极限电流以及开关特性以及开关特性等都有很大的影响。当温度过高时元器件体积发生膨胀、挤压，半导体芯片可能因为挤压产生裂纹报废。如果温度过低，往往会造成芯片在额定工作电压下无法打开其内部的半导体开关，导致其不能正常工作。

所以在芯片生产过程中需要对其进行冷热冲击试验。一般情况下，民用芯片的正常温度范围是0℃-70℃，**芯片能更高，正常工作温度范围是-55℃-125℃。

冷热冲击试验箱(高低温冲击试验箱)可以为电子芯片提供几秒内温度骤变的环境，,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害。冷热冲击试验箱经常被用来做适应性试验及对电子元器件的**可靠性试验和产品筛选。

宏展仪器十九年专注于可靠性环境试验设备研发与生产，冷热冲击试验箱也是主打产品之一。冷热冲击试验箱分两箱（提篮式）冷热冲击试验箱和三箱（气动式）冷热冲击试验箱。满足-70~150℃的温度冲击，温度骤变时间在10秒~3分钟内完成。更多电子产品芯片可靠性测试可以与宏展专业团队交流沟通。

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词条说明
试验箱的使用方法
试验箱是一种非常重要的测试设备，主要用于检测各种材料和产品在不同条件下的性能和耐久性。在使用试验箱时，应遵循以下步骤：1. 准备工作在使用试验箱前，应该先进行准备工作。首先检查试验箱是否正常工作，以确保其满足测试要求。然后清理试验箱内的杂物和污垢，并检查温度、湿度、压力等参数是否符合测试要求。2. 安装样品将待测试的样品放入试验箱内，以确保其能够产生稳定和可靠的测试结果。根据实际测试要求，应合理安
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