X荧光光谱仪样品制得好分析数据准确高

时间：2023-09-14

作者：无锡创想分析仪器有限公司杭州分公司

一般来说X荧光光谱仪运用到的X射线荧光是一个表面分析的方法，它的分析方法是一个相对分析方法，这就要求任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性。因此测试人员在制样的时候得严格且精细，样品的分析面相对于整个样品要有代表性。

1、避免制备样品时发生误差和样品自身引起的误差：

（1）样品的均匀性。

（2）样品的表面效应。

（3）粉末样品的粒度和处理方法。

（4）样品中存在的谱线干扰。

（5）样品本身的共存元素影响即基体效应。

（6）样品的性质。

（7）标准样品的化学值的准确性。

X荧光光谱仪的分析原理图

2、了解一些引起样品误差的原因，做好规避：

（1）样品物理状态不同，样品的颗粒度、密度、光洁度不一样；样品的沾污、吸潮，液体样品的受热膨胀，挥发、起泡、结晶及沉淀等。

（2）样品的组分分布不均匀样品组分的偏析、矿物效应等。

（3）样品的组成不一致引起吸收、增强效应的差异造成的误差

（4）被测元素化学结合态的改变样品氧化，引起元素百分组成的改变；轻元素化学价态不同时，谱峰发生位移或峰形发生变化引起的误差。

（5）制样操作在制样过程中的称量造成的误差，稀释比不一致，样品熔融不完全，样品粉碎混合不均匀，用于合成校准或基准试剂的纯度不够等。

此外，样品的平均粒度和粒度分布；样品中是否存在不均匀的多孔状态等都需要测试人员的注意，可以说，在样品制备过程有很多步骤，X荧光光谱仪样品制得好，分析数据事半功倍！

词条
词条说明
直读光谱仪常用光源的放电方式有哪些？
直读光谱仪，目前常用的光源有以下两种：一是经典光源包括电弧及火花光源，二是等离子体光源居多。其中在冶金分析中广泛应用的有高压控波光源、低压火花高速光源和高能预火花光源。那么光谱分析常用光源的放电方式有哪些呢？1. 高能预火花放电较大电流可达150安和燃烧时间为150微秒，这样使试样中燃烧斑点内的组织结构更加均匀，由此来消除元素之间干扰及元素之间结合等效应。2.火花型放电对大多数元素重现性好。3.电
台式X荧光光谱仪检测分析时采用的定律分析
台式X荧光光谱仪之所以能够对生活中不同元素形成的各式各样的导体及非导体材料进行分析，是因为它的强大功能，那么你知道X荧光光谱仪在检测分析时采用了哪些定律呢？X荧光光谱仪在检测分析时采用了以下定律：莫塞莱定律：该定律反映了X射线荧光的波长与元素原子序数之间的关系。根据这一定律，只要测出一系列X射线荧光谱线的波长，在排除了其他谱线的干扰以后即可确定元素的种类。布拉格定律：这一定律是波长色散型X荧光光谱
伊瓦特手持光谱仪如何进行样品校准？
伊瓦特手持光谱仪进行样品校准的步骤如下：准备标准样品：首先，选择一系列已知浓度的标准样品，确保这些样品的纯度和稳定性。这些标准样品应该涵盖待测样品所涉及的范围，以便为校准过程提供准确的参考。打开光谱分析仪并进行预热：根据仪器的使用说明，打开伊瓦特手持光谱仪并进行预热。预热时间可能需要几分钟或更长时间，以确保仪器的稳定性和准确性。校准仪器：使用光谱分析仪附带的校准溶液或标准样品进行仪器校准。按照仪器
台式x荧光光谱仪检测金属镀层需要注意什么？
台式X荧光光谱仪是一种常用的分析仪器，它是通过激发样品中的分子或原子，使其发生荧光发射，然后通过检测荧光光谱来分析样品的成分和结构。那么，台式x荧光光谱仪可以检测测金属镀层吗？检测金属镀层的时候需要注意什么？答案是可以。事实上，荧光光谱仪可以用于测量各种类型的金属镀层，包括镀铬、镀锌、镀镍、镀铜等。这是因为金属镀层中含有大量的金属离子，这些离子可以被激发产生荧光发射，从而形成特定的荧光光谱。那么在