台式X荧光光谱仪的制样需要注意哪些点？

时间：2023-11-03

作者：无锡创想分析仪器有限公司杭州分公司

台式X荧光光谱仪越来越受大家的青睐，X射线荧光实际上是一个表面分析方法，激发只发生在试样的浅表面，那么在使用仪器测试的时候，需要注意哪些方面，才能让测试结果误差更小呢？创想小编来给大家分别介绍下。

1、由样品制备和样品自身引起的误差：

（1）样品的均匀性。

（2）样品的表面效应。

（3）粉末样品的粒度和处理方法。

（4）样品中存在的谱线干扰。

（5）样品本身的共存元素影响即基体效应。

（6）样品的性质。

（7）标准样品的化学值的准确性。

2、引起样品误差的原因：

（1）样品物理状态不同，样品的颗粒度、密度、光洁度不一样；样品的沾污、吸潮，液体样品的受热膨胀，挥发、起泡、结晶及沉淀等。

（2）样品的组分分布不均匀样品组分的偏析、矿物效应等。

（3）样品的组成不一致引起吸收、增强效应的差异造成的误差

（4）被测元素化学结合态的改变样品氧化，引起元素百分组成的改变；轻元素化学价态不同时，谱峰发生位移或峰形发生变化引起的误差。

（5）制样操作在制样过程中的称量造成的误差，稀释比不一致，样品熔融不，样品粉碎混合不均匀，用于合成校准或基准试剂的纯度不够等。

3、样品种类样品状态一般有固体块状样品、粉末样品和液体样品等。

（1）固体块状样品包括黑色金属、有色金属、电镀板、硅片、塑料制品及橡胶制品等，其中金属材料占了很大的比例。

（2）粉末样品包括各种矿产品，水泥及其原材料，金属冶炼的原材料和副产品如铁矿石、煤、炉渣等；还有岩石土壤等。

（3）液体样品油类产品、水质样品以及通过化学方法将固体转换成的溶液等。

4、X荧光光谱仪分析法中不同样品有不同的制样方法。

金属样品如果大小形状合适，或者经过简单的切割达到X荧光光谱仪分析的要求，只需表面抛光，液体样品可以直接分析，大气尘埃通常收集在滤膜上直接进行分析。而粉末样品的制样方法就比较复杂。这里只对常见的固体和粉末样品的制样方法进行讨论，液体样品就不再讨论。

创想台式X荧光光谱仪

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