X荧光光谱镀层测厚仪既满足原有微小和复杂形态样品的膜厚检测功能,又可满足有害元素检测及轻元素成分分析,被广泛应用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量。
X荧光光谱镀层测厚仪配置
01 独立的X/Y/Z轴控制系统
02 微焦斑X光管
03 可变高压电源
04 防撞板外加防撞激光保护检测器对仪器进行双重安全保护
05 Fast-SDD探测器
06 双激光定位装置
07 标配可自动切换的准直孔和滤光片
软件优势
1、清晰化操作界面布局
简约的布局设计,让操作员快速的掌握软件基本操作。
2、快捷键按钮设计
增加了日常镀层测量快捷键设计按钮,可快速检测,提升工作效率。
3、高清可视化窗口
可清晰直观的观测到被检测样品的状态,通过自动对焦、移动快捷键,调节到用户较理想的观测效果。
4、多通道数字谱图界面
清晰化呈现被检样品的元素谱图,配合先进的解谱技术,便可精准计算出结果。
5、测试结果汇总布局设计
可快速查找当前测试数据,并可对测试数据进行报告生成,且快速查询以往测试数据。
应用行业
航天新能源
电子通讯
电镀行业
高校及科研院
贵金属镀饰
磁性材料
词条
词条说明
RoHs是《电气、电子设备中限制使用某些有害物质指令》(the Restriction of the use of certain hazardous substances in electrical and electronic equipment)的英文缩写。该标准将于2006年7月 1日开始正式实施,主要用于规范电子电气产品的材料及工艺标准,使之更加有利于人体健康及环境保护。该标准的目的在于
X荧光光谱镀层测厚仪既满足原有微小和复杂形态样品的膜厚检测功能,又可满足有害元素检测及轻元素成分分析,被广泛应用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量。X荧光光谱镀层测厚仪配置01 独立的X/Y/Z轴控制系统02 微焦斑X光管 03 可变高压电源04 防撞板外加防撞激光保护检测器对仪器进行双重安全保护05 Fast-SDD探测器06 双激光定位装置07 标配可自动切换的准直
X射线荧光光谱仪另一方面,化学元素遭到高能光子或粒子的照耀,如内层电子被激起,则当外层电子跃迁时,就会放射出特征X射线。特征X射线是一种别离的不延续谱。假如激起光源为x射线,则受激发生的x射线称为二次X射线或X射线荧光。特征x射线显示了特征x射线光谱仪发生的进程。当人射x射线撞击原子中的电子时,如光子能量大于原子中的电子约束能,电子就会被击出。这一互相效果进程被称为光电效应,被打出的电子称为光电子
主要使用X射线束激发荧光辐射,**次是在1928年由格洛克尔和施雷伯提出的。到了现在,该方法作为非破坏性分析技术,并作为过程控制的工具,广泛应用于采掘和加工工业。原则上,较轻的元素,可分析出铍(z=4),但由于仪器的局限性和轻元素的低X射线产量,往往难以量化,所以针对能量分散式的X射线荧光光谱仪,可以分析从轻元素的钠(z=11)到铀,而波长分散式则为从轻元素的硼到铀。主要用途仪器是较新型X射线荧光
公司名: 江苏天瑞仪器股份有限公司
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