我们都知道,手持式光谱仪是一种常用的分析仪器。它具有便携性,高分辨率和信噪比,但就是这样的仪器还会造成轻微的系统误差。接下来我就会简单的介绍一下造成手持式光谱仪系统误差的主要因素。
尽管手持式光谱仪具有很高的测量精度,但是在测量样品中的元素含量时,获得的结果通常与实际含量不一致,存在一定的误差,并且由于许多因素,某些材料的含量非常低。
造成手持式光谱仪系统误差的主要因素:
1.当标准样品和样品的含量和化学成分不完全相同时,基质线和分析线的强度可能会发生变化,从而导致误差。
2.当铸造后的钢样的金属结构与退火,淬火,回火,热轧和锻造后的钢样的金属结构不同时,实测数据将有所不同。
3.当标准样品和样品的物理性质不相同时,激发的特征谱线将不同,并且会发生系统误差。
4.未知元素光谱线的重叠干扰。例如,在冶炼过程中添加脱氧剂和脱硫磷剂时,会混入未知的合金元素,并会引入系统误差。
5.为了消除系统错误,必须严格遵守标准样品制备的要求。为了检查系统误差,需要使用化学分析方法来分析多次校准的结果。
在手持式光谱仪仪器软件中,稳定性要求能够执行复杂的数学计算(例如导数和反卷积),计算光谱之间相似度的能力,模式识别分析,对多元校准分析的支持以及用户创建的光谱库和搜索。
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近年来食品安全问题已经是老生常谈了,台式X荧光光谱仪是一种可以进行无损分析的先进分析仪器,它可以用于食品中重金属含量的测定。因此,准确测定食品中的重金属含量对于保护消费者的健康至关重要。下面将详细介绍台式X荧光光谱仪如何检测食品中的重金属含量。首先,X荧光光谱仪基于X射线荧光光谱原理工作。当X射线入射到样品表面时,它会与样品中的原子发生相互作用。这些相互作用会导致样品中原子内部的电子跃迁,并在跃迁
台式X荧光光谱仪是一种常用的分析仪器,它是通过激发样品中的分子或原子,使其发生荧光发射,然后通过检测荧光光谱来分析样品的成分和结构。那么,台式x荧光光谱仪可以检测测金属镀层吗?检测金属镀层的时候需要注意什么?答案是可以。事实上,荧光光谱仪可以用于测量各种类型的金属镀层,包括镀铬、镀锌、镀镍、镀铜等。这是因为金属镀层中含有大量的金属离子,这些离子可以被激发产生荧光发射,从而形成特定的荧光光谱。那么在
手持式光谱仪采用的是X射线荧光光谱技术。这种技术有着分析速度快、非损坏性、测量元素范围广、成本低等特点。并不局限样品的状态,可以固态也可以是液态物质。所以手持式X荧光光谱仪检测重金属土壤是很有效的一种方法。我们为什么要检测重金属土壤呢?因为重金属污染物一般不易迁移,也不能被土壤微生物分解,它会在土壤中长期留存并且积累,如果在这种土壤上种植食物,那么这些元素会通过食物链在生物体内富集,或转化为有毒性
台式X荧光光谱仪是一种现代测试分析技术,它可以多元素同时测定,并且快速、无损。X荧光光谱仪广泛应用于材料科学、生物医学、地质研究、环境监测、天体物理、文物考古、刑侦等领域。下面我们一起来看看X荧光光谱仪的十个功能特点:1、可以根据不同的客户来设置不同的限定标准,不需要繁琐的更换限定值;2、集成数据统计功能,企业的品质部门可以根据数据筛选统计供应商、物料名称、部件以及通过不同时间段测试状况;3、具有
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