质量因素对脉冲波形和峰值加速度的影响
对于质量较小的电子电气产品,如小型手持电子设备(手机、智能手表等),其惯性相对较小。在实际使用中,可能遭遇的冲击多是由于意外掉落或与其他物体的碰撞。这些冲击通常具有较高的频率和较短的作用时间。因此,在冲击试验中,半正弦波脉冲波形比较合适,因为它能够较好地模拟这种瞬间碰撞的情况。对于峰值加速度,由于产品质量小,其在受到冲击时能够承受相对较高的加速度。一般来说,小型手持电子设备的冲击试验峰值加速度可以设置在 1500 - 2000m/s² 左右。
对于质量较大的产品,如大型服务器机柜、工业用配电柜等,其惯性较大。在运输或安装过程中,可能会受到如车辆急刹车、吊装过程中的晃动等冲击。这些冲击的作用时间相对较长,梯形波脉冲波形更能模拟这种情况。由于产品质量大,过大的峰值加速度可能会对产品造成严重损坏,所以峰值加速度通常设置在较低的值,例如 50 - 100m/s²。
结构特点对脉冲波形和峰值加速度的影响
对于结构简单、内部元件布局紧凑的电子电气产品,如简单的电子电路板。其在冲击下的响应主要取决于元件与电路板之间的连接牢固程度。在冲击试验中,可采用半正弦波,峰值加速度根据元件的耐受程度来确定。如果元件是小型的贴片式电容、电阻,峰值加速度可以适当高一些,如 1000 - 1500m/s²。
对于具有复杂机械结构的产品,如带有可活动部件(如光驱、硬盘驱动器等)的计算机设备。在冲击过程中,活动部件可能会产生额外的惯性力。这种情况下,需要考虑采用能够模拟复杂冲击过程的波形,如后峰锯齿波。峰值加速度要综合考虑活动部件的质量、运动范围等因素。一般来说,要确保活动部件在冲击后不会出现位移、碰撞等损坏情况,峰值加速度可能设置在 300 - 500m/s²。同时,在试验过程中还要观察活动部件的运动情况,对试验参数进行调整。
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词条说明
高低温测试,又高低温循环测试,在电子产品环境可靠性测试中较为常见。 高低温测试是用带加热和制冷功能的可编程高低温箱进行测试。 先检查产品拍照,再放进高低温箱中,设置温度箱参数、各自温度保持时间、周期数等,测试结束再检查样品性能,对比分析。 编辑:Amanda王莉
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