X光镀层测厚仪是一种用于查看物体厚度的仪器仪表。在工业生产测厚中广泛运用。这类仪器,根据其测量办法的不一样,大致可以划分为以下几个种类:运用嵘湎摺⑩射线、y射线穿透特性的放射性厚度计;选用超声波频率改动的超声波厚度计以及选用涡流原理的电涡流厚度计;还有电容式厚度计等。
此外,运用微波和激光技术制成厚度计,现在还处在研发、试验期间。X光镀层测厚仪可测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、搪瓷、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:搪瓷、橡胶、油漆、塑料等)。既可用于实验室中的精细测量,也可用于工程现场广泛地运用在金属制造业、化工业、航空航天、科研开发等范畴,是企业确保产品质量、商查看控的查看仪器。
X光镀层测厚仪作业原理:
膜厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
1、磁性法:当测量头与覆盖层接触时,测量头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。
2、涡流法:利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场,当测量头与覆盖层接触时,金属基体上产生电涡流,并对测量头中的线圈产生反馈作用,通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。
词条
词条说明
x射线镀层测厚仪采用内置探头一体化设计、抗干扰技术、数字显示,具备机型小巧、操作简捷、待机时间长等特点;且具有自动关机、欠电指示、统计、系统/零点/两点校准功能。它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。x射线镀层测厚仪的系统构成如下: 1、
x荧光镀层测厚仪采用X荧光分析技术,可以测定各种金属镀层的厚度,包括单层、双层、多层及合金镀层等,可以进行电镀液的成分和浓度测定。 x荧光镀层测厚仪是能谱分析方法,属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时,其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自特征的X射线,不同的元素有不同的特征X射线、探测器探测到这些特征X射线后,将其光信号
X光镀层测厚仪可无损地测量磁性金属基体上非磁性涂层的厚度,以及非磁性金属基体上非导电覆层的厚度。本仪器具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制和保证产品质量的检测仪器。仪器广泛运用于工业生产测厚中,包含钢板厚度、卷皮带厚度等,当然在实验室精细测量中也有运用,包含航空航天、科研开发等范畴。 X光镀层测
X光镀层测厚仪综合性能:镀层分析、定性分析、定量分析、镀液分析; 镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层. 镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,*购买标准药液.
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