X光镀层测厚仪采用的是一种XRF光谱分析技术,X光管产生的X射线打到被测样品时可以击出原子的内层电子,出现壳层空穴,当外层电子从高轨道跃迁到低能轨道来填充轨道空穴时,就会产生特征X射线。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特征信息。
X光镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的*二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
X光镀层测厚仪提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱**值同比其他牌子相同配置的机器。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。**大/开放式的样品台,可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业可测量各类金属层、合金层厚度等。
X光镀层测厚仪性能特点
1、长效稳定X铜光管。
2、三重安全保护模式。
3、整体钢架结构、外型简洁。
4、FP软件,无标准样品时亦可测量。
5、半导体硅片电制冷探测器,摒弃元素识别能力较弱的计数盒。
6、内置天瑞仪器研发部研发的—信噪比增强器(SNE)与MCA多道分析器。
7、内置高清晰摄像头,方便用户随时观测样品。
8、脉冲处理器,数据处理快速准确。
9、X光镀层测厚仪具有手动开关样品腔,操作安全方便。
苏州实谱仪器有限公司专注于手持式光谱仪,X荧光光谱仪,rohs检测仪器等
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词条说明
X光镀层测厚仪可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱**值,同比其他牌子相同配置的机器,X光镀层测厚仪为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。**大/开放式的样品台,可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等
X光镀层测厚仪综合性能:镀层分析、定性分析、定量分析、镀液分析; 镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层. 镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,*购买标准药液.
x荧光镀层测厚仪采用X荧光分析技术,可以测定各种金属镀层的厚度,包括单层、双层、多层及合金镀层等,可以进行电镀液的成分和浓度测定。 x荧光镀层测厚仪是能谱分析方法,属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时,其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自特征的X射线,不同的元素有不同的特征X射线、探测器探测到这些特征X射线后,将其光信号
X-RAY镀层测厚仪是一种多功能实用型便携式测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。通过使用不同的测头,还可满足多种测量的需要。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业*的仪器。 X-RAY镀层测厚仪的工作原理: 镀层
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