恒温恒湿试验箱的线性和非线性在进行试验检测时具有很大的差别,以下内容便是对设备线性与非线性测试的介绍:
线性测试是指恒温恒湿试验箱在工作过程当中,在预先设定的某一时间段里面,升温速率和降温速率的差值比不变的现象。举个例子:如果设定升降温速度是3℃/min,那么在这个设定范围内的升降温速度一直都是3℃/min,不会变成1℃/min,也不会变成5℃/min,线性升温每分钟升降温速度是可控的。
非线性测试是指设备在工作过程当中,在预先设定的某一时间段里面,升温速率和降温速率的差值比变化的现象。举个例子:如果设定时间为45min内达到所设定的温度,那么恒温恒湿箱在工作中可能会出现每分钟升温5℃,也可能会每分钟升温只有1℃的情况,非线性每分钟的升降温速度是不可控。
恒温恒湿试验箱的线性与非线性测试不仅所规定的时间达标值不同,而且它们所需要的环境要求以及配置也是不同的。总体来说,线性配置要求要大于非线性。选择宏展科技,可以根据您的需求做个人订制。
词条
词条说明
1.线性快速温变试验箱指的是试验工作中,在设定的某一段时间内,它的升温速率和降温速率是不变的,例如:在某段时间内,线性快速温变试验箱的升温速率是每分钟升3度,那么它在这整个时间段内的升温速率都是3度每分钟固一不变,不会有时候是2度每分钟,有时候是4度每分钟;同理,降温速度也是一样的。简而言之就是升降温只能3度每分钟,不会变。2.非线性快速温变试验箱是指:快速温变试验箱在某段时间内工作的升温度或降温
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半导体芯片高低温湿热试验箱是一种专门用于对半导体芯片和电子元器件进行高温、低温和湿热环境测试的设备。它可以模拟不同的环境条件,以评估芯片和元器件在较端温度和湿度下的性能和可靠性。根据相关标准,可以对半导体芯片进行的试验有以下5个:1. 高温储存测试条件:85℃±5℃持续时间:1000h2. 低温储存测试条件:-40℃±5℃持续时间:1000h3. 温度循环测试条件:-40℃~85℃持续时间:200
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