半导体芯片高低温湿热试验箱常用试验项目

时间：2023-06-29

作者：广东宏展科技有限公司

半导体芯片高低温湿热试验箱是一种专门用于对半导体芯片和电子元器件进行高温、低温和湿热环境测试的设备。

它可以模拟不同的环境条件，以评估芯片和元器件在较端温度和湿度下的性能和可靠性。

根据相关标准，可以对半导体芯片进行的试验有以下5个：

1. 高温储存

测试条件：85℃±5℃

持续时间：1000h

2. 低温储存

测试条件：-40℃±5℃

持续时间：1000h

3. 温度循环

测试条件：-40℃～85℃

持续时间：200个循环

4. 湿热循环

测试条件：40℃～85℃，RH=85%

持续时间：10个循环

5. 高温高湿寿命测试

测试条件：85℃、85%RH

持续时间：1000h

词条
词条说明
温度冲击试验箱类型
温度冲击试验箱是一种广泛应用于电子电器、汽车、轨道交通、通讯、航空航天、医疗等行业的测试设备。其主要作用是模拟实际环境下的交变温度条件，以测试电子元器件、材料和产品的耐热性、耐寒性、热稳定性、机械强度和电性能等指标。按照不同的测试要求和使用场景，温度冲击试验箱可以分为多种类型。下面就对常见的温度冲击试验箱进行简要介绍：1. 水浸式温度冲击试验箱水浸式温度冲击试验箱是将样品放置在水池中，通过改变水温
恒温恒湿高低温交变湿热试验箱加湿和有哪些区别？
恒温恒湿试验箱为了实现试验条件，不可避免地要对试验箱进行加湿和的操作，这里就目前在宏展恒温恒湿试验箱中运用较多的各种方法进行分析，指出它们各自的优缺点和建议使用的条件。湿度表示的方法很多，就试验设备而言，通常用相对湿度这一概念描述湿度。相对湿度的定义是指空气中水汽分压力与该温度下水的饱和汽压之比并用百分数表示。由水汽饱和压力性质可知，水汽的饱和压力只是温度的函数，与水汽可处的空气压力无关，人们通过
UN38.3认证锂电池生产标准要求
项目标准检测方法验收标准温度循环UN38.3在75±2℃下至少存放6h，然后在试验温度-40±2℃下至少存放6h。两个较端测试温度之间的zui大时间间隔为 30 分钟。这个过程必须重复 10 次。所有测试电池和电池组均在 20±5 ℃ 的环境温度下存放 24 小时。不失重、不渗漏、不排气、不崩解、不裂解、不燃烧。并且试验后每个充满电的试验电池或电池组的开路电压不低于试验前电压的9O%。IEC621
选择可程式高低温试验箱厂家需注意三点
随着可程式高低温试验箱箱的逐渐普及，使用的公司越来越多，试验箱厂家的数量也不断增多，难免有些鱼龙混杂，那么要如何选择试验箱厂家需要注意什么呢？下面就让宏展的小编给大家介绍一下吧。一、您可以在企业信息系统中查询制造商的业务范围，查看业务范围中是否有“仪表”。如果没有，制造商本身没有权利生产可程式高低温试验箱箱。其次，看看是否有“生产”或“研究与开发”这个词。如果没有，只有“销售”，那么它就是经销商中