物理原理出发,为什么芯片等半导体等电子元件不能忍受高温(100℃左右)?
温度会影响很多很多参数,它们会对电路的各个方面产生影响。
zui大的问题就是电路延迟。温度会影响半导体器件的迁移率和阈值电压,但是这两者和温度的关系很复杂,而且不同材料的不同掺杂也会影响温度效应。通常情况下,在接近室温的情况下,迁移率和阈值都会随着温度的上升而降低,总体上来说,温度的上升会造成电路延时的增加。一旦延时过高,部分电路就会不能满足时序要求,从而输出错误的结果,这就导致电路功能出错。
在此过程中,温度升高将导致高能载流子的增多,这将导致晶体管的雪崩破坏几率增大,从而降低了电路的电压稳定性。如果没有足够的余量,当晶体管的工作电压达到一定程度的时候,很有可能会因为温度过高而导致短路,从而将芯片烧毁。这是目前比较少见的现象,主要是因为芯片的过热保护不够完善,所以才会出现这样的现象。
此外,还存在着一个严重的问题——电迁移。目前的集成电路大多都是用铜来连接,但因为铜原子太不稳定,很可能会因为电场会让铜原子流失,从而让连接线变得更窄。一般情况下,在设计芯片时,会按照设计电流的大小,选择一个足够大的线宽,以确保在芯片设计寿命内,铜线可以经受住电迁移的影响而不会断裂。但温度越高,电迁移效应就越强,120度的温度和宽度,其电迁移寿命就比105度的温度低了70%,严重影响了芯片的使用寿命。
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词条说明
一、HAST高加速温湿度应力测试(HAST)是一种以温湿度为环境参数的高加速电子元器件可靠性测试方法。 HAST 也称为压力锅测试 (PCT) 或不饱和压力锅测试 (USPCT)。其目的是通过将测试室中的水蒸气压力增加到**测试样品内部水蒸气分压的较高水平来评估测试样品的耐湿性。这个过程在时间上加速了水分渗入样品中。二、HAST测试标准HAST 是加速耐湿性测试的加速版本。与高温/高湿测试(85°
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一、产品介绍洁净干燥箱是一种提供高温净化环境的特殊洁净设备,箱内空气封闭自循环,经耐高温空温空气过滤器反复过滤,使干燥箱工作室内处于无尘状态。本系列烘箱分自净高效型和洁净型两种,其特点为前后开门方式,进出风口配有高效过滤,内加热热风循环,开门联锁等特点。二、产品用途适用于烘烤有化学性气体及食品加工行业的欲烘烤物品、基板应力的去除、油墨的固化、漆膜的烘干等。广泛使用于电子、电机、通讯、电镀、塑料、五
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