Decap开封类型原理及应用 仪准 AA探针台 转载请写明出处Decap即开封,也称开盖,开帽,指给完整封装的IC做*局部腐蚀,使得IC可以暴露出来,同时保持芯片功能的完整无损, 保持 die, bond pads, bond wires乃至lead-frame不受损伤, 为下一步芯片失效分析实验做准备,方便观察或做其他测试(如FIB,EMMI),Decap后功能正常。 去封范围:普通封装 COB、BGA、QFP、 QFN、SOT、TO、 DIP、BGA、COB 陶瓷、金属等其它特殊封装。 一般的有化学(Chemical)开封、机械(Mechanical)开封、激光(Laser)开封、Plasma Decap ? Decap实验室可以处理几乎所有的IC封装形式(COB.QFP.DIP SOT 等)、打线类型(Au Cu Ag),免预约立等可取或当天完成并寄出。 芯片开封机主要有化学腐蚀和激光开封两种,区别是激光开封比较简单,而且开封铜线邦定的IC比较*。 酸法塑料封装器件自动开封机DECAP SESAME 707/777Cu混合酸开封系统 关键应用: 快速的IC蚀刻时间 即使是较易损坏的器件也能*的开封 设计紧凑,占地面积小 专为铜线器件的开封设计(SESAME 777Cu) 产品特点 : 主动压力监测系统(ASM) 非常*的加热时间 液体传感器警告操作员有酸的泄漏 泵保修6年 蚀刻头终身保修 SESAME 707/777Cu是一个自动的混合酸开封系统,集成了先进的特色来提高生产效率。 开封机可以快速*的打开任何器件,即便是较易损坏的器件。通过精确的控制硝酸、硫酸混酸,不会造成对器件的损坏。 可以选择一个*特的供酸功能,它能够在少于较大的酸消耗量时提供zui高的脉冲率。 SESAME 707/777Cu可以加热到zui高250℃,提供任意种类的酸的配比,使得操作更多样化。 整体刻蚀头由高级碳化硅加工而成,具有**强的耐酸性。 样品固定装置采用气动装置激活,并且设计了无限次往复运动的能力。 SESAME 707/777Cu是唯yi在酸瓶和开封机之间包含了对所有的液体连轴器的真正的双重节制的开封机。 在酸瓶容器系统和刻蚀单元上都有流量传感器,用于警告操作员在机器内部或酸瓶系统出现的任何酸的意外泄漏。 激光开封机台(Laser Decap) 常用品牌型号ADVANCED PST-2000 产品特点: 1、对铜制程器件有很好的开封效果,良率**90%。 2、对环境及人体污染伤害较小,符合环保理念。 3、开封效率是普通酸开封机台的3~5倍。 4、电脑控制开封形状、位置、大小、时间等,操作便利。 5、设备稳定,故障率远低于酸开封机台。 6、几乎没有耗材,running cost很低。 7、体积较小,*摆放。
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1.外观检查 外观检查就是目测或利用一些简单仪器,如立体显微镜、金相显微镜甚至放大镜等工具检查PCB的外观,寻找失效的部位和相关的物证,主要的作用就是失效定位和初步判断PCB的失效模式。外观检查主要检查PCB的污染、腐蚀、爆板的位置、电路布线以及失效的规律性、如是批次的或是个别,是不是总是集中在某个区域等等。另外,有许多PCB的失效是在组装成PCBA后才发现,是不是组装工艺过程以及过程所用材料的影
金相试样制备及常见问题 金相分析是研究材料内部组织结构的重要方法,一般用来进行失效分析(FA)、质量控制(QC)、研发(RD)等。而金相试样制备的目的是获得材料内部真实的组织结构,需要通过不同的金相试样制备方法去完成。 一般来说,金相试样制备的方法有:机械法(传统意义上的机械制备--磨抛)、电解法(电解抛光和浸蚀)、化学法(化学浸蚀)、化学机械法(化学作用和机械作用同时去除材料)。 金相试样制备的
失效分析就是要分析损坏的产品从而为改进设计或明确责任提供素材的工作。但是从行业来看,目前很多公司特别是中小型公司的失效分析做的并不好。 中国有句俗话叫:“吃一堑,长一智”,《论语》中也有“不贰过”的说法。其本质就是要从失败中吸取教训避免进一步的犯错。 一方面,一些中小型电子产品生产商没有良好的物料控制体系,不能对物料进行有效的追溯。一旦出了问题,很难查到当年的渠道和来源。甚至不能保证物料的真伪。更
失效分析样品准备: 失效分析是芯片测试重要环节,无论对于量产样品还是设计环节亦或是客退品,失效分析可以帮助降低成本,缩短周期。 常见的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,FIB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,因为失效分析设备昂贵,大部分需求单位配不了或配不齐需要的设备,因此借用外力,使用对外开放的资源,来完成自己的分析也是一种很好的选择。我们选择去外面测试时需要准备
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