芯片封装如何去除?---芯片开封介绍 芯片开封也就是给芯片做外科手术,通过开封我们可以直观的观察芯片的内部结构,开封后可以结合OM分析判断样品现状和可能产生的原因。 开封的含义:Decap即开封,也称开盖,开帽,指给完整封装的IC做局部腐蚀,使得IC可以暴露出来,同时保持芯片功能的完整无损, 保持 die, bond pads, bond wires乃至lead-不受损伤, 为下一步芯片失效分析实验做准备,方便观察或做其他测试(如FIB,EMMI),Decap后功能正常。 开封范围:普通封装 COB、BGA、QFP、 QFN、SOT、TO、 DIP、BGA、COB 陶瓷、金属等其它特殊封装。 开封方法:一般的有化学(Chemical)开封、机械(Mechanical)开封、激光(Laser)开封、Plasma Decap 开封实验室:Decap实验室可以处理几乎所有的IC封装形式(COB.QFP.DIP SOT 等)、打线类型(Au Cu Ag)。 高分子的树脂体在热的浓硝酸(98%)或浓硫酸作用下,被腐去变成易溶于丙酮的低分子化合物,在超声作用下,低分子化合物被清洗掉,从而露出芯片表层。 开封方法一:取一块不锈钢板,上铺一层薄薄的黄沙(也可不加沙产品直接在钢板上加热),放在电炉上加热,砂温要达100-150度,将产品放在砂子上,芯片正面方向向上,用吸管吸取少量的发烟硝酸(浓度>98%)。滴在产品表面,这时树脂表面起化学反应,且冒出气泡,待反应稍止再滴,这样连滴5-10滴后,用镊子夹住,放入盛有丙酮的烧杯中,在超声机中清洗2-5分钟后,取出再滴,如此反复,直到露出芯片为止,最后必须以干净的丙酮反复清洗确保芯片表面无残留物。 开封方法二: 将所有产品一次性放入98%的浓硫酸中煮沸。这种方法对于量多且只要看芯片是否破裂的情况较合适。缺点是操作较危险。要掌握要领。 开封注意点: 所有一切操作均应在通风柜中进行,且要戴好防酸手套。 产品开帽越到最后越要少滴酸,勤清洗,以避免过腐蚀。 清洗过程中注意镊子勿碰到金丝和芯片表面,以免擦伤芯片和金丝。 根据产品或分析要求有的开帽后要露出芯片下面的导电胶.,或者*二点. 另外,有的情况下要将已开帽产品按排重测。此时应首先放在80倍显微镜下观察芯片上金丝是否断,塌丝,如无则用刀片刮去管脚上黑膜后送测。 注意控制开帽温度不要太高。 分析中常用酸: 浓硫酸。这里指98%的浓硫酸,它有强烈的脱水性,吸水性和氧化性。开帽时用来一次性煮大量的产品,这里利用了它的脱水性和强氧化性。 浓盐酸。指37%(V/V)的盐酸,有强烈的挥发性,氧化性。分析中用来去除芯片上的铝层。 发烟硝酸,指浓度为98%(V/V)的硝酸。用来开帽。有强烈的挥发性,氧化性,因溶有NO2而呈红褐色。 王水,指一体积浓硝酸和三体积浓盐酸的混合物。分析中用来腐金球,因它腐蚀性很强可腐蚀金。
词条
词条说明
1.1 失效和失效分析 产品丧失规定的功能称为失效。判断失效的模式,查找失效原因和机理,提出预防再失效的对策的技术活动和管理活动称为失效分析。 1.2 失效和事故 失效与事故是紧密相关的两个范畴,事故强调的是后果,即造成的损失和危害,而失效强调的是机械产品本身的功能状态。失效和事故常常有一定的因果关系,但两者没有必然的联系。 1.3 失效和可靠 失效是可靠的反义词。机电产品的可靠度R(t)是指时间
如何确认显微镜的放大倍率 很多实验室都在使用显微镜,但对显微镜的相关专业知识并不了解,只是知道怎么去操作,但对于一些基本常识可能都不怎么清楚,那么今天我们就来讲讲有关显微镜的放大倍率是如何计算的? 也许有人会说这不是很简单的问题嘛,但实际还是有点小复杂的。 首先我们来举个例子来说:当体视显微镜目镜的倍率为10倍,变倍体变倍范围是:0.7X-4.5X,附加物镜为:2X。那它的光学放大倍率为:10乘0
失效分析就是要分析损坏的产品从而为改进设计或明确责任提供素材的工作。但是从行业来看,目前很多公司特别是中小型公司的失效分析做的并不好。 中国有句俗话叫:“吃一堑,长一智”,《论语》中也有“不贰过”的说法。其本质就是要从失败中吸取教训避免进一步的犯错。 一方面,一些中小型电子产品生产商没有良好的物料控制体系,不能对物料进行有效的追溯。一旦出了问题,很难查到当年的渠道和来源。甚至不能保证物料的真伪。更
无损检测分析 工程检查/无损检测无损检测是在不损坏工件或原材料工作状态的前提下,对被检验部件的表面和内部质量进行检查的一种测试手段。 无损检测方法 常用的无损检测方法有:X光射线探伤、超声波探伤、磁粉探伤、渗透探伤、涡流探伤、γ射线探伤、萤光探伤、着色探伤等方法。 无损检测目地 通过对产品内部缺陷进行检测对产品从以下方面进行改进。 1、改进制造工艺; 2、降低制造成本; 3、提高产品的可靠性; 4
公司名: 仪准科技(北京)有限公司
联系人: 赵
电 话: 01082825511-869
手 机: 13488683602
微 信: 13488683602
地 址: 北京海淀中关村东升科技园
邮 编: