失效分析是一门发展中的新兴学科,近年开始从**向普通企业普及。它一般根据失效模式和现象,通过分析和验证,模拟重现失效的现象,找出失效的原因,挖掘出失效的机理的活动。在提高产品质量,技术开发、改进,产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义。其方法分为有损分析,无损分析,物理分析,化学分析等。 原理 失效机制是导致零件、元器件和材料失效的物理或化学过程。此过程的诱发因素有内部的和外部的。在研究失效机制时,通常先从外部诱发因素和失效表现形式入手,进而再研究较隐蔽的内在因素。在研究批量性失效规律时,常用数理统计方法,构成表示失效机制、失效方式或失效部位与失效频度、失效百分比或失效经济损失之间关系的排列图或帕雷托图,以找出必须首先解决的主要失效机制、方位和部位。任一产品或系统的构成都是有层次的,失效原因也具有层次性,如系统-单机-部件(组件)-零件(元件)-材料。上一层次的失效原因即是下一层次的失效现象。越是低层次的失效现象,就越是本质的失效原因。 失效分析是任何产品研发都必须要做的,对于PCB而言,也有很多失效的情况,那么如何分析和改善呢?其实对于很多硬件工程师而言了解的渠道很少,也难以理解,即使阅读完这一篇比较科普的文章可能也难以理解。 作为各种元器件的载体与电路信号传输的枢纽,PCB已经成为电子信息产品的较为重要而关键的部分,其质量的好坏与可靠性水平决定了整机设备的质量与可靠性。但是由于成本以及技术的原因,PCB在生产和应用过程中出现了大量的失效问题。
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毕业季临近,一大批高校学子将 走出校园,踏入全新的科创生涯 特殊时期,困难拦不住研学实习的脚步 芯学院全新业务“企业认知实习”正在进行中 首站云端实习联合北京工业大学 为莘莘学子提供线上实习宝贵机会 北京软件产品质量检测检验中心的参观过程中,讲解员首先向同学们介绍了两台高低温实验箱和一台激光开封机,然后在高洁净空间实验室中依次介绍了探针台、IV曲线测试仪、EMMI(微光显微镜)、芯片切割制样设备、
《晶柱成长制程》 硅晶柱的长成,首先需要将纯度相当高的硅矿放入熔炉中,并加入预先设定好的金属物质,使产生出来的硅晶柱拥有要求的电性特质,接着需要将所有物质融化后再长成单晶的硅晶柱,以下将对所有晶柱长成制程做介绍。 长晶主要程序︰ 融化(MeltDown) 此过程是将置放于石英坩锅内的块状复晶硅加热制**摄氏1420度的融化温度之上,此阶段中较重要的参数为坩锅的位置与热量的供应,若使用较大的功率来
聚焦离子束,Focused Ion beam 服务介绍:FIB(聚焦离子束,Focused Ion beam)是将液态金属离子源产生的离子束经过离子枪加速,聚焦后照射于样品表面产生二次电子信号取得电子像,此功能与SEM(扫描电子显微镜)相似,或用强电流离子束对表面原子进行剥离,以完成微、纳米级表面形貌加工。 服务范围:工业和理论材料研究,半导体,数据存储,自然资源等领域 服务内容:1.芯片电路修改
Decap开封类型原理及应用 仪准 AA探针台 转载请写明出处Decap即开封,也称开盖,开帽,指给完整封装的IC做*局部腐蚀,使得IC可以暴露出来,同时保持芯片功能的完整无损, 保持 die, bond pads, bond wires乃至lead-frame不受损伤, 为下一步芯片失效分析实验做准备,方便观察或做其他测试(如FIB,EMMI),Decap后功能正常。 去封范围:普通封装 COB
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