东莞IC芯片回收

时间：2023-05-12作者：深圳市龙岗区鑫万疆再生资源商行浏览：7

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使用组合透镜系统对物体成像，实现加电时液晶透镜区域清晰，具有大视场、局部高分辨率的效果。本文通过实验测量分析模组光圈与液晶透镜匹配、液晶透镜位置等对于成像质量的影响。研究方向：液晶透镜成像系统测试目的：展示成像系统对于局部区域的清晰成像效果，测量不同位置、不同光圈下成像系统的MTF，分析其对于成像质量的影响。测试设备:相机、镜头、函数发生器、功率放大器ATA-24组合透镜系统放大器型号:AigtekATA-242实验过程：1.实验室制备液晶透镜，并通过干涉法获取波前信息，分析得到zernike系数，得到液晶透镜的性能参数，以选择合适的驱动电压；组装成像系统，对不同区域的物体进行成像实验；使用ISO12233板对成像系统进行对焦测试，测试不同光圈、不同液晶透镜位置的MTF值。


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