为什么可控硅容易击穿? 很多企业都在使用可控硅,可是有些企业的可控硅特别容易烧坏呢?下面就由我为大家一一介绍可控硅被击穿的各种原因: 1、过压击穿: 过压击穿是可控硅击穿的主要原因之一,可控硅对过压的承受能力几乎是没有时间的,即使在几毫秒的短时间内过压也会被击穿的,因此实际应用电路中,在可控硅两端一定要接入RC吸收回路,以避免各种无规则的干扰脉冲所引起的瞬间过压。如果经常发生可控硅击穿,请检查一下吸收回路的各元件是否有烧坏或失效的。 2、过流与过热击穿:其实过流击穿与过热击穿是一回事。过流击穿就是电流在通过可控硅芯片时在芯片内部产生热效应,使芯片温度升高,当芯片温度达到175℃时芯片就会失效且不能恢复。在正常的使用条件下,只要工作电流不**过可控硅额定电流是不会发生这种热击穿的,因为过流击穿原理是由于温度升高所引起的,而温度升高的过程是需要一定时间的,所以在短时间内过流(几百毫秒到几秒时间)一般是不会击穿的。 3、过热击穿:这里所说的过热击穿是指在工作电流并不**过可控硅额定电流的情况下而发生的热击穿,发生这种击穿的原因主要是可控硅的辅助散热装置工作不良而引起可控硅芯片温度过高导致击穿。
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固态继电器或模块的发热量主要跟所驱动的负载的实际电流有关,而与其本身的电流等级大小关系不大。 发热量的计算公式(两种): 1:单相固态继电器、单相交流调压模块、R系列固体调压器 发热量=实际负载电流(安培)×1.5瓦/安培 对三相固态继电器、三相交流调压模块,其实际负载电流应为三相实际负载电流之和。 2:对于单相全控整流模块
晶体二极管为一个由p型半导体和u型半导体形成的p-n结,在其界面处两侧形成空间电荷层,并建有自建电场。当不存在外加电压时,由于p-n结两边载流子浓度差引起的漂移电流相等而处于电平衡状态。当外界有正向电压偏置时,外界电场和自建电场的互相抑消作用使载流子的扩散电流增加引起了正向电流。当外界有方向电压偏置时,外界电场和自建电场进一步加强,形成在一定反向电压范围内与反
本产品以优质进口IGBT作为主功率器件,以**微晶(又称纳米晶)软磁合金材料为主变压器铁芯,主控制系统采用了多环控制技术,结构上采取了防盐雾酸化措施。电源产品结构合理,可靠性强。该电源以其体积小、重量轻、高效率、高可靠的优越性能成为可控硅电源的更新换代产品。适用于实验、氧化、电解、镀锌、镀镍、镀锡、镀铬、光电、冶炼、化成、腐蚀等各种精密表
光伏防反二极管需要以下特点: 1. 高的方向电压,通常需要**过1500V 因为光伏阵列较高的时候会达到甚至**过1000V 2. 低的功耗,即导通阻抗(通态阻抗越小越好,通常需要小于0.8~0.9V) &nbs
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