氮化铝陶瓷基板是电子信息行业中大规模集成电路封装、散热基板用关键材料,在国计民生的各行各业拥有广泛的应用领域,如国家鼓励实施的集成电路升级、LED照明、电子及微电子封装、功率封装,如晶闸管、整流管等;包括大功率器件、电力电子器件;汽车电子的IGBT及MOSFET功率模块封装等。作为新型功能材料,氮化铝广泛应用于军事和空间技术通讯、计算机、仪器仪表工业、电子设备、汽车、日用家电、办公自动化等各个领域。如何烧结制备氮化铝陶瓷基板是一个非常值得关注的问题。今天小编就来阐述有一下。 一,不同温度和烧结环境中,氮化铝陶瓷基板平整度表现不同 氮化铝陶瓷基板在烧结过程中,会受到生坯中含有的氧杂质影响,热导率不能稳定控制在170W/m·K以上,而且会产生不同程度的变形,表面不平整,通常平整度合格率低于90%。要得到表面平整的陶瓷基板,需要采用打磨或研磨的方式进行加工,这不仅需要去除0.2-0.3mm厚度的表面,而且容易造成基板破碎,降低成品率。 将排胶后的氮化铝生坯产品放入烧结炉内烧结,烧结温度为1820℃,用除尘设备除去烧结后的氮化铝基板表面的隔粘粉。该方法是常规的烧结方法,其产品的平整度合格率很难控制,通常低于90%。 将含有氮化铝粉末的原料在压力150Pa以下加热到1500℃,再利用非氧化性气体,在压力为0.4MPa以上的加压气氛下升温到1700~1900℃并进行保持,然后以10℃/分钟以下的冷却速度冷却到1600℃。单纯加压气氛下烧结的氮化铝陶瓷基板的热导率,很难稳定控制在170W/m·K以上。 在高温箱式电炉中,对叠好的生膜片进行排胶和烧结;其排胶温度控制在600℃以下,排胶升温速率小于或等于0.5℃/min;所述烧结是:600℃至峰值温度Tmax,烧结升温速率为0.5~3℃/min,其中峰值温度Tmax视陶瓷料而定,峰值温度的保温时间1~5h。该方法也属于常规的烧结方法,其产品的平整度合格率很难控制,通常低于90%。 采用自蔓延粉体制备高导热氮化铝陶瓷的方法,陶瓷基片的制备过程中烧结温度为1830~1890℃,烧结时间为8~12h。烧结所用的气氛为氢气与氮气混合气体,所述氢气与氮气的流速比为1:2~1:1。CN107986794A所述其特征是将经过排完胶的生坯置入氮气炉中,控制烧结时间为2~24小时,控制较高烧结温度为1700~1900℃,控制烧结时间为4~6小时。该方法采用的自蔓延粉体即使经过其**中的预处理,也很难控制基板热导率稳定在170W/m·K以上, 一种高导热陶瓷材料及其制造方法中,公开了一种采用氮气气氛保护下进行烧结的方法,该方法中使将氮气作为保护气体充满炉膛内,仍然存在炉膛内残留大量氧杂质而影响物料的问题。 二,能**导热率又能提高合格率的氮化铝陶瓷基板烧结方法。 一种氮化铝陶瓷基板的烧结方法,在基板烧结过程中,使用惰性气体对炉膛内的气氛进行置换。 烧结方法采用可控的氮气保护气氛,并定期置换炉内气氛,调整石墨烧结炉的炉膛压力和炉内化学物质气氛,排出杂质气氛,控制氮化铝陶瓷基板的热导率和提升基板的平整度。这种生产加工的基板的热导率可以稳定控制在170W/m·K以上,基板平整度合格率为95%以上。 金瑞欣特种电路技术有限公司是专业的陶瓷基板生产厂家,主要生产加工氧化铝陶瓷基板和氮化铝陶瓷基板,金瑞欣陶瓷基板PCB加工厂家。可以制作精密线路,实铜填孔,做槽、做金线等工艺。 以上内容大都来自:百度学术
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电子陶瓷基板主要包括氧化铝和氮化铝基板,具有硬度、导热性、电阻率和热稳定性高,介电常数低,热膨胀系数与芯片匹配等特点,是新一代微电子器件或系统的可以选择,在高端大功率电子元件中具有广阔的应用前景。为实现电子系统的高密度互联,需要在陶瓷基板表面进行多尺寸、多间距的盲、通孔加工,且孔质量需满足芯片导通和引脚固定的封装要求。 然而,氧化铝和氮化铝陶瓷是典型的硬脆材料,传统的机械加工较易导致基板断裂,而特种
陶瓷基板在高频高速电路中的应用 在高频高速电路中一般在通信领域,一则需要面临高温、高电流、高电压;另一方面则需要减低各项损坏的同时又能保证 高频高速的性能要求。那么这样的电子产品需要耐高温的材料与高频高速材料有效结合,高频陶瓷pcb就能解决通讯电路中高温和急速通信的需求。陶瓷基板是构成陶瓷PCB非常有力的材料,今天我们就来看看陶瓷基板在高频高速电路中的应用吧。 一,陶瓷基板的优点和优越性能适应了
随着我国高铁、航天、等领域的快速发展,未来对大功率电力电子器件的需求也将越来越大。为了适应更加复杂、苛刻的应用条件,大功率电力电子器件朝着高温、高频、低功耗以及智能化、模块化、系统化方向发展,这对整个电子器件的散热提出了严峻的挑战,而功率器件中基板的作用是吸收,芯片产生的热量,并传到热沉上,实现与外界的热交换 ,所以制备高热导率基板材料成为研发大功率模块电子产品的关键所在。例如目前大功率 LED
采用磁控溅射法在氧化铝陶瓷基板上制备了Cu薄膜,利用台阶测试仪、XRD以及半导体测试仪对薄膜的厚度、结构及电学特性进行了表征及测试。结果表明,当溅射电流为0.6 A,氩气流量为100 cm3/min时,制备出的薄膜结晶特性良好,具有优异的电学特性。通过进一步深入研究,揭示了工艺参数影响薄膜性能的物理机理。 薄膜电路是利用真空镀膜、紫外光刻、刻蚀以及电镀工艺,在陶瓷基板上制作导体、无源器件和绝缘介
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