X射线荧光光谱仪原理

时间：2018-07-24

X射线荧光光谱仪的原理是通过X射线照射样品激发产生荧光，通过半导体检测器收集发射的荧光信息并通过计算机进行处理，就能得出待测样品的各种元素的含量。X射线荧光分析技术可以解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、材料中元素的快速、准确分析。也可以用于ROHS六大有害物质测试和塑料中卤素的检测，铜合金元素成分分析及金属镀层厚度测试等。
X射线荧光光谱仪的原理是利用低能X光激发待测元素，对Si、S、Al、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率：采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性：利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有好的分析精度；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。

性能特点

专业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器，摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。

技术指标

测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99%
同时分析元素：24种元素同时分析
功能范围：水泥、钢铁、矿料等全元素分析
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60s—200s
能量分辨率为：（150±5）eV
管压：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA

标准配置

电制冷UHRD探测器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
精准的升降平台
加强的金属元素感度分析器
外观尺寸： 650×608×466 mm
样品腔尺寸：315×95mm
重量：105kg

应用领域

测试高炉渣、生铁、烧结矿、球团矿、白云石、膨润土、石灰石、普硅等，还可以广泛应用于铜合金、锌合金、镁合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分分析。以及ROHS有害物质检测，卤素含量分析，镀层厚度测试等。
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词条
词条说明
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