超声波测厚仪XF-321/322技术参数

时间：2015-05-13

XF-321/322超声波测厚仪是一种便携式测厚仪，可精确测量各种板材和加工零件，也可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度。广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航天等各个领域。轻便、小巧、便携、可靠性高。反测精确声速，抗振动、冲击和电磁干扰！

技术参数

XF-321

XF-322

测量范围

0.75~300mm（钢，由探头决定）

存储

无

显示分辨率

0.1mm

0.01mm

声速范围

1000~9999m/s

表面温度

-10~60℃

示值误差

±（1%H+0.1）mm，H为被测物实际厚度

电源

AAA型碱性电池（2节）

操作时间

约200小时

外形尺寸

130×70×25mm

重量

约0.2kg（主机）

标准配置

主机、L51探头、AAA型碱性电池、耦合剂

可选配

探头、耦合剂

词条
词条说明
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