紫外辐照计XF-UV-A技术参数

时间：2015-06-02

作者：南昌星枫仪器有限公司

UV-A紫外辐照计(单通道)

该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

主要性能指标：

* 波长范围及峰值波长 (二者择其一)

（1）UV－365探头（光谱响应曲线见图）

λ：(320～400)nm； λP＝365nm

（2）UV－420探头（光谱响应曲线见图）

λ：(375～475)nm； λP＝420nm

* 辐照度测量范围

(0.1～199.9×103)μW/cm2

* 紫外带外区杂光

UV365 小于0.02％

UV420 小于0.02％

* 准确度

±10％

* 响应时间

1秒

* 使用环境

温度(0～40)℃；湿度＜85％RH

* 尺寸和重量

180mm×80mm×36mm；0.2kg

* 电源

6F22型9V积层电池一只

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