如何使用漆膜测厚仪测量的准确
基体金属特性
对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。
基体金属厚度
检查基体金属厚度是否**过临界厚度,无损检测资源网 如果没有,可采用3.3中的某种方法进行校准。
边缘效应
不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。
曲率
不应在试件的弯曲表面上测量。
读数次数
通常由于仪器的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。
表面清洁度
测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质。
教您选择一款好的漆膜测厚仪
随着客户的需求,漆膜测厚仪已经发展为多元化,那在如今市场如何选姐一款好的仪器很重要,它关系到您以后的使用方便。
1.为什么漆膜测厚仪有时测量不准确?
这是一个比较笼统的问题。因为就仪器不准的原因来说是多种多样的。单对漆膜测厚仪来说,主要有下面几种原因引起测量不准确。
(1)强磁场的干扰。我们曾做过一个简单实验,当仪器在1万V左右的电磁场附近工作时,测量会受到严重的干扰。如果离电磁场非常近时还有可能会发生死机现象。
(2)人为因素。这种情况经常会发生在新用户的身上。漆膜测厚仪之所以能够测量到微米级就因为它能够采取磁通量的微小变化,并把它转化成为数字信号。在使用仪器测量过程中如果用户对本仪器不熟悉就可能使探头偏离被测机体,使磁通量发生变化造成错误测量。所以建议用户朋友初次使用本仪器时,要先掌握好测量方法。探头的放置方式对测量有很大影响,在测量中应使探头与试样表面保持垂直。并且探头的放置时间不宜过长,以免造成基体本身磁场的干扰。
(3)在系统矫正时没有选择合适的基体。基体平面为7mm,厚度为0.2mm,低于此临界条件测量是不可靠的。
(4)附着物质的影响。本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质,以保证探头与覆盖层表面直接接触。在进行系统矫正时,选择的基体的表面也必须是裸露的、光滑的。
(5)仪器发生故障。此时可以和技术人员交流或者返厂维修。
2.漆膜测厚仪测量过程中,为什么有时候测量数据会出现明显偏差?
因为就仪器不准的原因来说是多种多样的。单对漆膜测厚仪来说,主要有下面几种原因引起测量不准确。
(1)强磁场的干扰。我们曾做过一个简单实验,当仪器在1万V左右的电磁场附近工作时,测量会受到严重的干扰。如果离电磁场非常近时还有可能会发生死机现象。
(2)人为因素。这中情况经常会发生在新用户的身上。漆膜测厚仪之所以能够测量到微米级就因为它能够采取磁通量的微小变化,并把它转化成为数字信号。在使用仪器测量过程中如果用户对本仪器不熟悉就可能使探头偏离被测机体,使磁通量发生变化造成错误测量。所以建议用户朋友初次使用本仪器时,要先掌握好测量方法。探头的放置方式对测量有很大影响,在测量中应使探头与试样表面保持垂直。并且探头的放置时间不宜过长,以免造成基体本身磁场的干扰。
(3)在系统校准时没有选择合适的基体。基体平面为7mm,厚度为0.2mm,低于此临界条件测量是不可靠的。
(4)附着物质的影响。本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质,以保证探头与覆盖层表面直接接触。在进行系统校准时,选择的基体的表面也必须是裸露的、光滑的。
(5)仪器发生故障。此时可以和技术人员交流或者返厂维修。
(6)测量过程当中由于探头放置方式不正确或者外界干扰因素的影响可能会造成测量数据明显偏大。这时可以按住CAL键把该数据清除以免进入数据统计中去。
3.漆膜测厚仪如何系统校准?
校准的方法、种类,这是新用户经常会遇到的问题。系统校准、零点校准还有两点校准其实都已经在说明书上写到了,用户只需仔细阅读就可以了。需要注意的是:在校准铁基时是多测量几次以防止错误操作;系统校准的样片要按照从小到大的顺序进行。如果个别标准片丢失可以找与其数值相近的样片代替。
4.如何选择合适的仪器型号?
选择什么型号的仪器,要根据用户测量物体的厚度来定。一般来说测量450um以下的物体时好选择OU3500F400系列,对0~450um的厚度来说该型号已经达到2%~3%的精度,而且对450um以下的厚度值它也能够很好的确保测量精度。如果测量物体厚度在0-5000um,建议选择OU3500型测厚仪。更厚的话就要选择OU3500F10型磁性漆膜测厚仪。
5.有时开机出现干扰是什么原因无损检测资源网?
开机后仪器屏幕出现测量状态箭头不能再次进行测量,就说明仪器受到了干扰。主要有两个原因:
(1)开机时探头离铁基太近,因为铁基磁场的影响而受到了干扰。
(2)没插好探头或者探头线有损伤。
词条
词条说明
DC-2020B 超声波测厚仪 技术参数 显示方法∶128*32 LCD 中文点阵液晶显示(带背光) 显示位数:四位 测量范围:0.7-250mm 示值精度:0.01mm 声速范围:1000-9999m/s 测量周期:2次/秒 数据存储:4000组 自动关机时间:90秒 电源:二节七号(AAA)电池,可连续工作不少于72小时 使用温度:-10°C - 40°C 存储温度:-20°C - 70°C
选型原则一:爆破测振仪仪器在现场能直接任意设置采集参数 由于测试现场环境相对复杂,需要临时根据现场的地质状况、测点分布、传感器特性、炸药量、爆点分布、重点保护的建筑分布等情况,随时调整各种采集参数。所以仪器在现场必须能适应千变万化的现场状况,要求灵活、直接地设置采集参数以保证能准确捕捉到被测信号。而*外配累赘的电脑支持。 选型原则二:爆破测振仪仪器是否具备智能模式,全自动监测爆破数据。 由于监
产品型号:HT118产品名称:HT118高精度数字高斯计产品货号:产品价格:0产品品牌:星枫仪器产品类别:物理性质检测仪器HT118高精度数字高斯计是单片机控制的台式毫特斯拉计,可用于测量直流磁场、交流磁场、辐射磁场等各类磁场的磁感应强度。本仪器操作方便,分辨率高,液晶显示清晰且有背光,按键式置零,用发光二极管、蜂鸣作分选提示,电源直接使用市电。 仪器特点:l 配备二根传感器,兼顾高分辨率(在高
UV757系列紫外可见分光光度计能在紫外、可见光谱区域内对样品物质作定性和定量的分析。该产品可广泛应用于临床检验、生物化学、石油化工、环境保护、质量控制等部门,使理化实验室常用的分析仪器之一。 主机功能: 采用微机测量系统,T-A转换精确,自动调整0%(T)和调整**(T),具有GOTOλ,自动8联样品架,自动扣除比色皿误差,浓度多点标定,斜率和截距设置等功能,具有RS232接口和并行打印口
公司名: 南昌星枫仪器有限公司
联系人: 黄经理
电 话: 0791-85226050
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地 址: 江西南昌青云谱区南昌市青云谱区三点西路44号
邮 编: 330001
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