1。测量对象引入的误差测量对象引入的测量误差主要包括以下几方面:
1、覆盖层厚度的影响
2、基体金属磁性的影响
3、基体金属厚度的影响
4、材料的边缘效应的影响
5、基体金属机械加工方向的影响
6、基体金属剩磁的影响
7、基体金属曲率的影响
8、基体金属表面粗糙度的影响
对上述因素产生的测量误差分析如下:
1、对于较薄的覆盖层,由于受仪器本身测量精度和覆盖层表面粗糙度的影响,较难准确测量覆盖层厚度,尤其是当覆盖层厚度小于5μm的情况;对于较厚的覆盖层,其测量结果相对误差近似为一常数,**误差随覆盖层厚度增加而增大。
2、不同铁磁性材料或同一铁磁性材料采用不同的热处理方式和冷加工工艺后,其磁特性均有较大差异,而材料的磁特性差异会直接影响对*磁铁或检测线圈的磁作用,为减小或消除磁特性差异产生的影响,应采用磁特性与试样基体相同或相近的金属材料做为基体对仪器校准。
3、由于磁场在铁磁性基体材料中的分布状态在一定范围内与基体厚度密切相关,当基体厚度达到某临界厚度时,这种影响才能减小或忽略。若试样基体厚度小于临界厚度时,应通过化学方法除去试样的局部覆盖层,利用试样基体对仪器校准。
4、仪器对试样表面的不连续敏感,太靠近试样边缘或内转角处测量时,磁场将会发生变化,测量结果将不可靠。因此,不要在靠近不连续的部位如边缘、孔洞和内转角等处进行测量。
5、金属机械加工方向对材料的磁特性会产生较大影响,当使用双较式测头或被磨损而不平整的单较式测头测量时,测量结果会受到磁性基体金属机械加工(如轧制)方向的影响。因此,在试样上测量时应使测头的方向与在校准时该测头所取方向一致。
6、金属材料由于磨削等加工方式可能带来剩磁,影响仪器测量,试样测量前应进行消磁处理,并在互为180°的两个方向上进行测量。
7、基体金属曲率的变化将影响测量结果,曲率半径越小,对测量结果的影响越大。当测量曲率较小的试样时,应通过化学方法除去试样的局部覆盖层,利用试样的无膜部分作为基体对仪器校准。
8、基体金属表面粗糙度将影响测量结果,粗糙度程度增加,对测量结果的影响增大。应对试样基体多个位置进行零点校正,并在试样不同位置上进行多次测量,测量次数至少应增加到5次或以上,以减小影响。
2。测量方法引入的误差测量方法引入的测量误差主要包括以下几方面:
1、料表面附着外来物质
2、测头取向
对上述因素产生的测量误差分析如下:
1、仪器测头必须与试样表面紧密接触,当试样表面存在外来物质,如灰尘、油脂和腐蚀产物等,将影响测量结果,应尽量去除,保持试样表面清洁。同时,在测量时,还应避开难以除去的缺陷。
2、考虑到地球重力场的影响,磁吸力原理的测厚仪测量结果会受磁体取向的影响,当在水平或倒置位置上采用磁吸力原理的测厚仪测量时,若测量装置没有在重心处得到支撑,应分别在水平或倒置位置上对仪器校准。
3。测量环境引入的误差测量环境引入的测量误差主要包括以下几方面:
1、围各种电气设备所产生的强磁场
2、环境温度
3、环境湿度
上述因素我们可以采取措施尽量避免,比如:尽可能避免在强磁场环境下测量;在常温常湿环境下即可满足测量条件,因此这些误差忽略不计,不予分析。
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ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪,其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。X射线荧光光谱仪通常可分为两大类,波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF),波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等,而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与控制部件,相对简单。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线,根据Bragg定
手持式光谱仪应如何保养维护?手持式光谱仪在生产生活中的应用越来越广泛,也越来越受很多人欢迎,但是在使用之后,该怎么保养它呢?这是一个非常重要的步骤,仪器保养得当不仅可以增加它的使用寿命,保证工作质量,还能提高其在工作中的效率!操作时的注意事项1.避免手持式光谱仪长时间放在阳光下,因为这样*使液晶显示器损坏,环境湿度0-95%之间为较好。也不要放在有液体或有腐蚀性溶剂的环境中,这样也会使手持式光谱
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