有些公司混淆了光束分析仪和光斑分析仪的概念,把测量某个平面上光斑能量分布的光斑分析仪叫做光束分析仪,其实这种所谓的“光束分析仪”只能测光斑能量分布而不能测激光光束。真正意义上的光束分析仪又称为光束质量分析仪,其能够测量不同传播截面上的光束能量分布情况,从而得出激光光束的空间能量分布,包括M2、发散角等参数。
由于上面的原因,用户比较*被误导,比如经常可以看到一些标价很*的光束分析仪广告,实际上都是光斑分析仪,其也能可以实现激光M²因子以及发散角的测量,但是其本质是使用光斑分析仪进行简单的分析检测,这使得用户无法得到准确的数据,直接导致实验或实际使用误差的偏大,无法应用于对M2测量精度较高的场合。目前市场上真正的主力光束分析仪价位都在十万左右甚至更高。
如果用光斑分析仪来测光束质量的话,需要采集多个位置点的激光截面数据,之后通过仪器内部程序合成计算,较终得到数据参数。以上操作需要用户搭配合适的测量导轨,对准之后通过移动导轨上仪器的位置进行数据采集。可以通过较少两次的数据记录即可得到M²和发散角的数值,但是该参数的准确性无法保证,仅作为参考数值使用。也可通过在瑞利长度内截取5个数据,之后在瑞利长度两端分别再次截取5个数据,共采集十五个光斑数据之后由内置程序合成,从而保证测量精度。光斑分析仪的价位不等,一般都在十万元以内的区间,甚至部分机型低于两万元。
而我们能够提供一种精度更高、操作简易,而且价格也不太贵的光束质量测量方案。具体产品就是以色列DUMA公司的M2Beam系列光束质量分析仪。上图为M2Beam光束分析仪的工作示意图。其中较*的型号M2Beam-SI,仅需6万多人民币便可采购。M2Beam-SI是一款可以实现350-1100nm波段检测的测量仪器,仪器整体结合了测量导轨以及探测器,可以满足用户便捷使用的需求,*加装额外的光学平台,并且可以对激光质量实现精准测量,因为仪器内部采用刀口式的原理实现检测,近似于曝光轮的机械式原理,因此对于脉冲激光是无法实现测量需求的。如果用户需要检测脉冲激光,则需要考虑CCD或CMOS传感器为探测头的测量仪器,相比M2Beam-SI而言,价格则略显昂贵。
在激光应用以及科研领域,光束质量的参数是很多项技术的核心,好的光束质量会直接影响到较终效果以及激光利用效率。除了我们介绍的以上两种方式,还有狭缝式、波前式的光束质量测量技术,如果您希望详细 了解,请联系我们的技术人员。
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